全可観測な環境での論理回路のテスト容易化設計に関する研究 ゼンカカンソク ナ カンキョウ デノ ロンリ カイロ ノ テスト ヨウイカ セッケイ ニ カンスル ケンキュウ
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Bibliographic Information
- Title
-
全可観測な環境での論理回路のテスト容易化設計に関する研究
- Other Title
-
ゼンカカンソク ナ カンキョウ デノ ロンリ カイロ ノ テスト ヨウイカ セッケイ ニ カンスル ケンキュウ
- Author
-
温, 暁青
- Author(Another name)
-
ウェン, シァオチン
- University
-
大阪大学
- Types of degree
-
博士 (工学)
- Grant ID
-
甲第4790号
- Degree year
-
1993-03-25
Note and Description
博士論文
Table of Contents
- 目次 / p3 (0004.jp2)
- 第1章 序論 / p1 (0006.jp2)
- 1.1 研究の背景 / p1 (0006.jp2)
- 1.2 研究の目的 / p3 (0007.jp2)
- 1.3 論文の構成 / p4 (0008.jp2)
- 第2章 論理回路のテストとテスト容易化設計 / p7 (0009.jp2)
- 2.1 論理回路の概念 / p7 (0009.jp2)
- 2.2 論理回路の設計と製造 / p11 (0011.jp2)
- 2.3 論理回路のテスト / p12 (0012.jp2)
- 2.4 論理回路のテスト容易化設計 / p20 (0016.jp2)
- 2.5 まとめ / p24 (0018.jp2)
- 第3章 全可観測なテスト環境 / p25 (0018.jp2)
- 3.1 電子ビームブローピング技術 / p25 (0018.jp2)
- 3.2 全可観測な環境 / p27 (0019.jp2)
- 3.3 全可観測な環境でのテストとテスト容易化設計 / p27 (0019.jp2)
- 3.4 まとめ / p29 (0020.jp2)
- 第4章 全可観測な環境での組合せ回路のテスト / p31 (0021.jp2)
- 4.1 k-UCP回路の定義 / p31 (0021.jp2)
- 4.2 基本系列 / p33 (0022.jp2)
- 4.3 k-UCP回路の故障検出 / p38 (0025.jp2)
- 4.4 通常のテスト環境におけるk-UCP回路の故障検出 / p39 (0025.jp2)
- 4.5 k-UCP回路概念の拡張 / p45 (0028.jp2)
- 4.6 まとめ / p50 (0031.jp2)
- 第5章 全可観測な環境での組合せ回路のテスト容易化設計 / p51 (0031.jp2)
- 5.1 概説 / p51 (0031.jp2)
- 5.2 k-U回路への変換 / p52 (0032.jp2)
- 5.3 k-UP回路への変換 / p53 (0032.jp2)
- 5.4 k-UC回路への変換 / p53 (0032.jp2)
- 5.5 実験結果と考察 / p59 (0035.jp2)
- 5.6 まとめ / p60 (0036.jp2)
- 第6章 全可観測な環境での順序回路のテスト / p61 (0036.jp2)
- 6.1 概説 / p61 (0036.jp2)
- 6.2 問題点 / p62 (0037.jp2)
- 6.3 k-UCP順序回路 / p63 (0037.jp2)
- 6.4 k-UCPスキャン回路 / p65 (0038.jp2)
- 6.5 まとめ / p70 (0041.jp2)
- 第7章 全可観測な環境での順序回路のテスト容易化設計 / p71 (0041.jp2)
- 7.1 k-UCP順序回路への変換 / p71 (0041.jp2)
- 7.2 k-UCPスキャン回路への変換 / p73 (0042.jp2)
- 7.3 まとめ / p77 (0044.jp2)
- 第8章 全可観測な環境での論理回路の故障診断 / p79 (0045.jp2)
- 8.1 kｰUCP回路の故障診断 / p79 (0045.jp2)
- 8.2 ガイディド･プローブ法による故障診断の効率化 / p88 (0050.jp2)
- 8.3 まとめ / p101 (0056.jp2)
- 第9章 総括 / p103 (0057.jp2)
- 謝辞 / p107 (0059.jp2)
- 参考文献 / p109 (0060.jp2)
- 研究発表一覧表 / p113 (0062.jp2)
