低速電子回折によるSi(111)-Al表面の構造解析
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Author
Bibliographic Information
- Title
-
低速電子回折によるSi(111)-Al表面の構造解析
- Author
-
西片, 一昭
- Author(Another name)
-
ニシカタ, カズアキ
- University
-
東京大学
- Types of degree
-
博士 (工学)
- Grant ID
-
甲第9492号
- Degree year
-
1992-03-30
Note and Description
博士論文
Table of Contents
- 目次 / (0003.jp2)
- 第1章 序論 / p1 (0005.jp2)
- 1.1 表面構造決定の重要性 / p1 (0005.jp2)
- 1.2 本研究の背景 / p2 (0006.jp2)
- 1.3 本研究の目的と内容 / p4 (0008.jp2)
- 第2章 低速電子回折の動力学的理論 / p6 (0010.jp2)
- 2.1 低速電子回折 / p6 (0010.jp2)
- 2.2 結晶内の低速電子 / p8 (0012.jp2)
- 2.3 原子散乱 / p11 (0015.jp2)
- 2.4 球面波による多重散乱の取り扱い / p14 (0018.jp2)
- 2.5 複数の面を持つ層からの回折 / p21 (0025.jp2)
- 2.6 多重散乱の摂動法 / p25 (0029.jp2)
- 第3章 表面構造解析の原理とプログラム開発 / p27 (0031.jp2)
- 3.1 IV曲線による表面構造解析 / p27 (0031.jp2)
- 3.2 厳密な動力学的解析の原理とプログラム開発 / p30 (0034.jp2)
- 3.3 テンソル法の理論 / p34 (0038.jp2)
- 3.4 テンソル法による構造解析の原理とプログラム開発 / p38 (0042.jp2)
- 第4章 回折強度迅速測定装置の開発 / p41 (0045.jp2)
- 4.1 強度測定の方法の検討 / p41 (0045.jp2)
- 4.2 光学系 / p42 (0046.jp2)
- 4.3 強度測定系 / p49 (0053.jp2)
- 第5章 A1/Si(111)の実験結果 / p54 (0058.jp2)
- 5.1 実験系 / p54 (0058.jp2)
- 5.2 実験結果と考察 / p60 (0064.jp2)
- 第6章 Si(111)[化学式]相の構造解析 / p69 (0073.jp2)
- 6.1 構造模型 / p69 (0073.jp2)
- 6.2 解析結果と考察 / p74 (0078.jp2)
- 第7章 Si(111)[化学式]相の構造解析 / p83 (0087.jp2)
- 7.1 構造模型 / p83 (0087.jp2)
- 7.2 解析結果と考察 / p88 (0092.jp2)
- 第8章 研究の総括と今後の課題 / p109 (0113.jp2)
- 参考文献 / p111 (0115.jp2)
- 謝辞 / p113 (0117.jp2)