Ⅳ族及びⅢ-Ⅴ族半導体の熱膨張係数の精密測定
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Bibliographic Information
- Title
-
Ⅳ族及びⅢ-Ⅴ族半導体の熱膨張係数の精密測定
- Author
-
春名, 勝次
- Author(Another name)
-
ハルナ, カツジ
- University
-
玉川大学
- Types of degree
-
博士 (工学)
- Grant ID
-
乙第50号
- Degree year
-
1996-03-10
Note and Description
博士論文
Table of Contents
- 目次 / (0003.jp2)
- 第1章 序論 / p1 (0005.jp2)
- §1.1 本研究の目的と意義 / p1 (0005.jp2)
- §1.2 本論分の構成 / p3 (0007.jp2)
- 第2章 固体の熱膨張 / p5 (0009.jp2)
- §2.1 序言 / p5 (0009.jp2)
- §2.2 固体の負の熱膨張現象 / p5 (0009.jp2)
- §2.3 負の熱膨張理論 / p7 (0011.jp2)
- 第3章 X線による格子定数測定 / p17 (0021.jp2)
- §3.1 序言 / p17 (0021.jp2)
- §3.2 ボンド法 / p17 (0021.jp2)
- §3.3 クライオスタット / p19 (0023.jp2)
- §3.4 格子定数の測定精度 / p25 (0029.jp2)
- §3.5 測定結果の補正 / p27 (0031.jp2)
- §3.6 測定試料及び測定条件 / p29 (0033.jp2)
- 第4章 結果検討 / p31 (0035.jp2)
- §4.1 序言 / p31 (0035.jp2)
- §4.2 Siの結果検討 / p31 (0035.jp2)
- §4.3 GaPの結果検討 / p40 (0044.jp2)
- §4.4 InPの結果検討 / p49 (0053.jp2)
- §4.5 ダイヤモンドの結果検討 / p57 (0061.jp2)
- §4.6 総括検討 / p66 (0070.jp2)
- 第5章 本論文の結論 / p85 (0089.jp2)
- §5 結論 / p85 (0089.jp2)
- 謝辞 / p89 (0093.jp2)
- 文献 / p90 (0094.jp2)
