高エネルギー陽子入射反応における中性子生成二重微分断面積の測定
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Bibliographic Information
- Title
-
高エネルギー陽子入射反応における中性子生成二重微分断面積の測定
- Author
-
中本, 建志
- Author(Another name)
-
ナカモト, タツシ
- University
-
九州大学
- Types of degree
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博士 (工学)
- Grant ID
-
甲第3737号
- Degree year
-
1996-03-27
Note and Description
博士論文
第1章 序論 第2章 予備実験 第3章 中性子生成二重微分断面積測定 第4章 データ解析 第5章 実験結果及び考察 第6章 結論及びこれからの課題
主1-参1
工学_エネルギー量子_応用原子核
Table of Contents
- 目次 / (0003.jp2)
- 第1章 序論 / p1 (0005.jp2)
- 1.1 高エネルギー核データの必要性 / p1 (0005.jp2)
- 1.2 INCE模型計算コードの概要 / p2 (0006.jp2)
- 1.3 本研究の目的と本論文の構成 / p4 (0008.jp2)
- 第2章 予備実験 / p6 (0010.jp2)
- 2.1 測定環境及び問題点 / p6 (0010.jp2)
- 2.2 検出器の配置 / p8 (0012.jp2)
- 2.3 バックグラウンド測定 / p11 (0015.jp2)
- 2.4 鉄シールドの影響 / p11 (0015.jp2)
- 2.5 床散乱中性子の影響 / p13 (0017.jp2)
- 2.6 中性子及びγ線の波形弁別 / p20 (0024.jp2)
- 2.7 予備実験の結果 / p24 (0028.jp2)
- 第3章 中性子生成二重微分断面積測定 / p28 (0032.jp2)
- 3.1 緒言 / p28 (0032.jp2)
- 3.2 入射陽子ビーム / p28 (0032.jp2)
- 3.3 中性子測定系 / p37 (0041.jp2)
- 3.4 ターゲット / p43 (0047.jp2)
- 第4章 データ解析 / p48 (0052.jp2)
- 4.1 緒言 / p48 (0052.jp2)
- 4.2 入射陽子ビーム中からの偶発的事象の除去 / p49 (0053.jp2)
- 4.3 ベト検出器との反同時計測による荷電粒子の除去 / p51 (0055.jp2)
- 4.4 ゲート積分法による波形弁別 / p53 (0057.jp2)
- 4.5 バックグラウンド中性子の除去 / p59 (0063.jp2)
- 4.6 中性子検出効率 / p61 (0065.jp2)
- 4.7 断面積及びエネルギーの算出 / p72 (0076.jp2)
- 4.8 データ補正 / p75 (0079.jp2)
- 4.9 不確定性及びエネルギー分解能 / p94 (0098.jp2)
- 第5章 実験結果及び考察 / p100 (0104.jp2)
- 5.1 LANLにおける実験結果との比較 / p100 (0104.jp2)
- 5.2 計算結果との比較及び考察 / p105 (0109.jp2)
- 第6章 結論及びこれからの課題 / p132 (0136.jp2)
- 謝辞 / p136 (0140.jp2)
- 参考文献 / p137 (0141.jp2)