工業用低エネルギー電子線照射の線量評価
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著者
書誌事項
- タイトル
-
工業用低エネルギー電子線照射の線量評価
- 著者名
-
来島, 利幸
- 著者別名
-
キジマ, トシユキ
- 学位授与大学
-
大阪工業大学
- 取得学位
-
博士 (工学)
- 学位授与番号
-
甲第13号
- 学位授与年月日
-
1996-03-05
注記・抄録
博士論文
目次
- 目次 / p1 (0007.jp2)
- 第1章 序論 / p1 (0011.jp2)
- 1.1 はじめに / p1 (0011.jp2)
- 1.2 工業用低エネルギー電子線照射利用の現状 / p1 (0011.jp2)
- 1.3 工業用電子線照射装置の現状 / p2 (0012.jp2)
- 1.4 電子線量評価の重要性 / p4 (0014.jp2)
- 1.5 線量計による線量測定 / p5 (0015.jp2)
- 1.6 計算評価法 / p6 (0016.jp2)
- 1.7 照射パラメータ / p8 (0018.jp2)
- 1.8 結論 / p10 (0020.jp2)
- 参考文献 / p11 (0021.jp2)
- 第2章 電子線量の実測評価 / p16 (0026.jp2)
- 2.1 まえがき / p16 (0026.jp2)
- 2.2 吸収線量 / p17 (0027.jp2)
- 2.3 電子線照射装置 / p17 (0027.jp2)
- 2.4 吸収線量の実測 / p18 (0028.jp2)
- 2.5 深度線量分布 / p23 (0033.jp2)
- 2.6 透過電子数 / p25 (0035.jp2)
- 2.7 薄いフィルム線量計の問題点と限界 / p26 (0036.jp2)
- 2.8 結論 / p27 (0037.jp2)
- 参考文献 / p28 (0038.jp2)
- 第3章 計算評価法 / p32 (0042.jp2)
- 3.1 まえがき / p32 (0042.jp2)
- 3.2 入射電子の振る舞い / p33 (0043.jp2)
- 3.3 計算値の妥当性 / p40 (0050.jp2)
- 3.4 CTAフィルムの性質 / p44 (0054.jp2)
- 3.5 結論 / p46 (0056.jp2)
- 参考文献 / p48 (0058.jp2)
- 第4章 線量評価に影響を与える電子挙動の解析 / p52 (0062.jp2)
- 4.1 まえがき / p52 (0062.jp2)
- 4.2 300keV電子線の振る舞い / p53 (0063.jp2)
- 4.3 入射電子のエネルギースペクトル / p55 (0065.jp2)
- 4.4 入射電子の入射角度分布 / p57 (0067.jp2)
- 4.5 照射方法による深度線量分布への影響 / p61 (0071.jp2)
- 4.6 通過電子数 / p61 (0071.jp2)
- 4.7 照射窓,空気および被照射体の吸収エネルギー / p62 (0072.jp2)
- 4.8 結論 / p63 (0073.jp2)
- 参考文献 / p65 (0075.jp2)
- 第5章 薄膜層の線量評価 / p67 (0077.jp2)
- 5.1 まえがき / p67 (0077.jp2)
- 5.2 薄膜層の厚さが吸収線量に与える影響 / p68 (0078.jp2)
- 5.3 基材の種類が吸収線量に与える影響 / p69 (0079.jp2)
- 5.4 通過電子のエネルギースペクトル / p70 (0080.jp2)
- 5.5 後方散乱係数の評価 / p71 (0081.jp2)
- 5.6 表面線量分布 / p74 (0084.jp2)
- 5.7 結論 / p76 (0086.jp2)
- 参考文献 / p78 (0088.jp2)
- 第6章 極表面層の吸収線量評価 / p80 (0090.jp2)
- 6.1 まえがき / p80 (0090.jp2)
- 6.2 極表面層の吸光度変化に及ぼす外的雰囲気 / p81 (0091.jp2)
- 6.3 深度線量分布の照射電荷フルエンス率による変化 / p81 (0091.jp2)
- 6.4 沈積電子数分布 / p83 (0093.jp2)
- 6.5 表面電荷密度の測定 / p84 (0094.jp2)
- 6.6 深度沈積電荷量分布の測定 / p85 (0095.jp2)
- 6.7 各種フィルム中の沈積電荷量分布 / p87 (0097.jp2)
- 6.8 フィルムの帯電 / p88 (0098.jp2)
- 6.8 結論 / p89 (0099.jp2)
- 参考文献 / p90 (0100.jp2)
- 第7章 電界を考慮した計算評価法 / p93 (0103.jp2)
- 7.1 まえがき / p93 (0103.jp2)
- 7.2 電界を考慮した電子軌道モデル / p94 (0104.jp2)
- 7.3 帯電フィルムの深度線量分布計算 / p100 (0110.jp2)
- 7.4 結論 / p103 (0113.jp2)
- 参考文献 / p105 (0115.jp2)
- 第8章 加速器電流と吸収線量の評価 / p107 (0117.jp2)
- 8.1 まえがき / p107 (0117.jp2)
- 8.2 静的照射 / p108 (0118.jp2)
- 8.3 動的照射 / p111 (0121.jp2)
- 8.4 吸収線量率の簡易計算法 / p115 (0125.jp2)
- 8.5 結論 / p118 (0128.jp2)
- 参考文献 / p119 (0129.jp2)
- 第9章 総括 / p120 (0130.jp2)
- 謝辞 / p122 (0132.jp2)