液晶分子の配向機構とその制御に関する研究

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博士論文

目次 / (0004.jp2)
第1章序論 / p1 (0006.jp2)
第2章基板表面における液晶のプレティルト角の測定 / p7 (0012.jp2)
2.1 まえがき / p7 (0012.jp2)
2.2 従来のプレティルト角の測定法 / p9 (0014.jp2)
2.3 従来測定法の問題点 / p18 (0023.jp2)
2.4 セルギャップの不均一性の影響を改善した測定方法 / p30 (0035.jp2)
2.5 測定範囲及びセルギャップの制約のない新しい測定法の提案 / p39 (0044.jp2)
2.6 まとめ / p71 (0076.jp2)
第3章高分子膜の表面処理による液晶の分子配向 / p73 (0078.jp2)
3.1 まえがき / p73 (0078.jp2)
3.2 ラビング強度の定量化 / p77 (0082.jp2)
3.3 液晶のプレティルトの発生機構 / p78 (0083.jp2)
3.4 まとめ / p120 (0125.jp2)
第4章液晶分子配向の熱処理効果 / p124 (0129.jp2)
4.1 まえがき / p124 (0129.jp2)
4.2 液晶プレティルト角の温度依存性 / p124 (0129.jp2)
4.3 高分子配向膜の熱処理効果 / p128 (0133.jp2)
4.4 液晶セル作製後の熱処理の影響 / p136 (0141.jp2)
4.5 熱処理前後の高分子の配向と液晶分子配向 / p139 (0144.jp2)
4.6 まとめ / p147 (0152.jp2)
第5章結論 / p149 (0154.jp2)
参考文献 / p152 (0157.jp2)
謝辞 / p156 (0161.jp2)
発表論文目録 / p158 (0163.jp2)

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