Development of a high-resolution tracking detector system using a silicon microstrip detector シリコンマイクロストリップ検出器を用いた高精度飛跡検出器の研究

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著者

    • 斉藤, 豊 サイトウ, ユタカ

書誌事項

タイトル

Development of a high-resolution tracking detector system using a silicon microstrip detector

タイトル別名

シリコンマイクロストリップ検出器を用いた高精度飛跡検出器の研究

著者名

斉藤, 豊

著者別名

サイトウ, ユタカ

学位授与大学

九州大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

甲第4166号

学位授与年月日

1997-09-22

注記・抄録

博士論文

目次

  1. Contents / p1 (0003.jp2)
  2. 1 Introduction / (0005.jp2)
  3. 1.1 General description / p1 (0005.jp2)
  4. 1.2 Silicon microstrip detectors / p2 (0006.jp2)
  5. 1.3 Silicon vertex detector for BELLE experiment / p5 (0009.jp2)
  6. 1.4 Objectives / p7 (0011.jp2)
  7. 2 Silicon strip detectors / p8 (0012.jp2)
  8. 2.1 Solid-state physics of the detectors / p8 (0012.jp2)
  9. 2.2 Issues for research and development / p11 (0015.jp2)
  10. 2.3 Fabrication of double-sided silicon microstrip detectors / p18 (0022.jp2)
  11. 2.4 Evaluation / p33 (0037.jp2)
  12. 3 Front-end electronics / p46 (0050.jp2)
  13. 3.1 Front-end system and circuits / p46 (0050.jp2)
  14. 3.2 Evaluation / p55 (0059.jp2)
  15. 4 Assembly method / p62 (0066.jp2)
  16. 4.1 Fabrication / p64 (0068.jp2)
  17. 4.2 Evaluation / p69 (0073.jp2)
  18. 5 Summary / p73 (0077.jp2)
  19. Acknowledgment / p75 (0079.jp2)
  20. A Process steps of DSSDs / p76 (0080.jp2)
  21. B Model of current transport in ONO dielectric film / p81 (0085.jp2)
  22. C Quadruple-correlated sampling / p87 (0091.jp2)
  23. D Physical constants / p90 (0094.jp2)
  24. Bibliography / p92 (0096.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000151789
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000001068727
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000316103
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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