Sn-Pb系はんだの引張・圧縮-繰返しねじり応力下における多軸クリープ疲労寿命評価に関する実験力学的研究

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著者

    • 山本, 隆栄 ヤマモト, タカエイ

書誌事項

タイトル

Sn-Pb系はんだの引張・圧縮-繰返しねじり応力下における多軸クリープ疲労寿命評価に関する実験力学的研究

著者名

山本, 隆栄

著者別名

ヤマモト, タカエイ

学位授与大学

立命館大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

甲第94号

学位授与年月日

1997-03-31

注記・抄録

博士論文

目次

  1. 目次 / (0003.jp2)
  2. 緒論 / p1 (0005.jp2)
  3. 第1章 電子デバイスのはんだ接合部の強度評価法に関する研究の現状と課題 / p1 (0005.jp2)
  4. 第2章 本研究の目的と本論文の構成 / p6 (0010.jp2)
  5. 本論 / p7 (0011.jp2)
  6. 第3章 63Sn37Pbはんだの多軸低サイクル疲労 / p7 (0011.jp2)
  7. 3.1 緒言 / p7 (0011.jp2)
  8. 3.2 試験片および実験方法 / p7 (0011.jp2)
  9. 3.3 実験結果および考察 / p13 (0017.jp2)
  10. 3.4 結言 / p30 (0034.jp2)
  11. 第4章 63Sn37Pbはんだの多軸クリープ疲労 / p31 (0035.jp2)
  12. 4.1 緒言 / p31 (0035.jp2)
  13. 4.2 試験片および実験方法 / p31 (0035.jp2)
  14. 4.3 実験結果および考察 / p33 (0037.jp2)
  15. 4.4 結言 / p48 (0052.jp2)
  16. 第5章 5種類のはんだの多軸低サイクル疲労 / p49 (0053.jp2)
  17. 5.1 緒言 / p49 (0053.jp2)
  18. 5.2 試験片および実験方法 / p49 (0053.jp2)
  19. 5.3 実験結果および考察 / p51 (0055.jp2)
  20. 5.4 結言 / p73 (0077.jp2)
  21. 結論 / p75 (0079.jp2)
  22. 参考文献 / p78 (0082.jp2)
  23. 謝辞 / p81 (0085.jp2)
4アクセス

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000151871
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000001068807
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000316185
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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