磁気軸受における高剛性化の研究

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著者

    • 原, 外満 ハラ, ソトミツ

書誌事項

タイトル

磁気軸受における高剛性化の研究

著者名

原, 外満

著者別名

ハラ, ソトミツ

学位授与大学

金沢大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

甲第1520号

学位授与年月日

1997-09-30

注記・抄録

博士論文

目次

  1. 目次 / (0003.jp2)
  2. 1章 はじめに / p1 (0005.jp2)
  3. 1.1 背景 / p1 (0005.jp2)
  4. 1.2 高い剛性の必要性 / p7 (0008.jp2)
  5. 1.3 高い真円度のセンサーターゲットの必要性 / p9 (0009.jp2)
  6. 1.4 従来の研究 / p11 (0010.jp2)
  7. 1.5 本研究の目的・概要 / p19 (0014.jp2)
  8. 2章 磁気軸受構成要素の不確かさ / p20 (0015.jp2)
  9. 2.1 電磁石の不確かさ / p20 (0015.jp2)
  10. 2.2 回転軸 / p25 (0017.jp2)
  11. 2.3 センサ支持台 / p28 (0019.jp2)
  12. 3章 電磁石の問題解決法―磁芯材質 / p30 (0020.jp2)
  13. 3.1 フェライト磁芯電磁石の必要性 / p30 (0020.jp2)
  14. 3.2 スラスト電磁石のフェライト化 / p32 (0021.jp2)
  15. 3.3 ラジアル電磁石のフェライト化 / p35 (0022.jp2)
  16. 3.4 まとめ / p38 (0024.jp2)
  17. 4章 電磁石の問題解決法―磁束フィードバック / p39 (0024.jp2)
  18. 4.1 磁束フィードバックのメリット / p39 (0024.jp2)
  19. 4.2 従来の研究 / p39 (0024.jp2)
  20. 4.3 珪素鋼板磁芯の渦電流 / p40 (0025.jp2)
  21. 4.4 磁束密度負帰還のブロック図 / p41 (0025.jp2)
  22. 4.5 試験回路 / p42 (0026.jp2)
  23. 4.6 測定結果 / p44 (0027.jp2)
  24. 4.7 安定性に関する検討 / p45 (0027.jp2)
  25. 4.8 磁気軸受への適用 / p48 (0029.jp2)
  26. 4.9 まとめ / p49 (0029.jp2)
  27. 5章 センサターゲットの問題解決法 / p50 (0030.jp2)
  28. 5.1 ソフトウェアによる真円基準 / p50 (0030.jp2)
  29. 5.2 真円度測定法の歴史 / p51 (0030.jp2)
  30. 5.3 3点法の特徴・利点・弱点 / p51 (0030.jp2)
  31. 5.4 3点法の原理 / p53 (0031.jp2)
  32. 5.5 3点法の問題 / p56 (0033.jp2)
  33. 5.6 装置の説明 / p58 (0034.jp2)
  34. 5.7 計測システムの校正 / p60 (0035.jp2)
  35. 5.8 精細なφ、τの求め方 / p63 (0036.jp2)
  36. 5.9 スピンドル回転精度測定への適用 / p67 (0038.jp2)
  37. 5.10 まとめ / p67 (0038.jp2)
  38. 6章 センサ支持台の問題解決法 / p68 (0039.jp2)
  39. 6.1 外筒の振動 / p70 (0040.jp2)
  40. 6.2 不安定になる条件 / p75 (0042.jp2)
  41. 6.3 テスト機による確認 / p78 (0044.jp2)
  42. 6.4 まとめ / p80 (0045.jp2)
  43. 7章 高剛性・高精度スピンドルの設計例と性能 / p81 (0045.jp2)
  44. 7.1 装置の全景 / p81 (0045.jp2)
  45. 7.2 装置の主要構成部品 / p82 (0046.jp2)
  46. 7.3 空気軸受の同定 / p88 (0049.jp2)
  47. 7.4 剛性の可変範囲 / p91 (0050.jp2)
  48. 7.5 回転精度 / p97 (0053.jp2)
  49. 7.6 まとめ / p102 (0056.jp2)
  50. 8 結論 / p103 (0056.jp2)
  51. 8.1 要約 / p103 (0056.jp2)
  52. 8.2 最後に / p104 (0057.jp2)
  53. 9 謝辞 / p105 (0057.jp2)
  54. 10 参考文献 / p106 (0058.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000152473
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000001086659
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000316787
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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