Computer simulation of dislocations in anthracene crystals アントラセン結晶中の転位のコンピュータシミュレーション

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著者

    • 井手, 直樹 イデ, ナオキ

書誌事項

タイトル

Computer simulation of dislocations in anthracene crystals

タイトル別名

アントラセン結晶中の転位のコンピュータシミュレーション

著者名

井手, 直樹

著者別名

イデ, ナオキ

学位授与大学

横浜市立大学

取得学位

博士 (理学)

学位授与番号

甲第300号

学位授与年月日

1994-03-25

注記・抄録

博士論文

目次

  1. 論文目録 / (0001.jp2)
  2. Contents / p4 (0006.jp2)
  3. PREFACE / p1 (0004.jp2)
  4. 1 GENERAL INTRODUCTION / p1 (0009.jp2)
  5. 1.1 Dislocations in organic crystals / p1 (0009.jp2)
  6. 1.2 Computer simulations on structural defects / p2 (0010.jp2)
  7. 1.3 Anthracene / p4 (0011.jp2)
  8. 1.4 Outline of the present thesis / p10 (0014.jp2)
  9. 1.5 History of studies on dislocations / p12 (0015.jp2)
  10. 1.6 “Integrated science”and the present study / p14 (0016.jp2)
  11. 2 METHOD / p16 (0017.jp2)
  12. 2.1 Treatments of molecules / p16 (0017.jp2)
  13. 2.2 Intermolecular interaction / p20 (0019.jp2)
  14. 2.3 Model crystals in simulations / p24 (0021.jp2)
  15. 2.4 Relaxation method / p29 (0023.jp2)
  16. 3 PERFECT CRYSTAL / p35 (0026.jp2)
  17. 3.1 Lattice constants / p35 (0026.jp2)
  18. 3.2 Elastic constants / p38 (0028.jp2)
  19. 3.3 Discussion / p43 (0030.jp2)
  20. 4 STRUCTURES OF DISLOCATIONS / p46 (0032.jp2)
  21. 4.1 [010](001)edge dislocations / p46 (0032.jp2)
  22. 4.2 [010]screw dislocations / p56 (0037.jp2)
  23. 4.3 [110](001)edge dislocations / p64 (0041.jp2)
  24. 4.4 [110]screw dislocations / p73 (0045.jp2)
  25. 4.5 Discussion and summary / p81 (0049.jp2)
  26. 5 PEIERLS STRESS / p83 (0050.jp2)
  27. 5.1 Method / p83 (0050.jp2)
  28. 5.2 Convergence condition of relaxations / p84 (0051.jp2)
  29. 5.3 Results / p85 (0051.jp2)
  30. 5.4 Discussion / p91 (0054.jp2)
  31. 6 KINK IN THE[010]SCREW DISLOCATION / p99 (0058.jp2)
  32. 6.1 Introduction / p99 (0058.jp2)
  33. 6.2 Method / p99 (0058.jp2)
  34. 6.3 Results / p100 (0059.jp2)
  35. 6.4 Discussion / p102 (0060.jp2)
  36. 7 GENERAL DISCUSSION / p104 (0061.jp2)
  37. 8 GENERAL CONCLUSIONS / p110 (0064.jp2)
  38. 9 REFERENCE REPORTS / p113 (0065.jp2)
  39. 9.1 Trap depths for a charge carrier around the[010](001)dislocations / p113 (0065.jp2)
  40. 9.2 Activation energies of self-diffusion / p118 (0068.jp2)
  41. ACKNOWLEDGEMENT / p124 (0071.jp2)
  42. REFERENCES / p125 (0071.jp2)
2アクセス

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000153237
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000001087296
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000317551
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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