Pendellösung fringes of silicon at low temperatures 低温におけるシリコンのペンデル縞

この論文をさがす

著者

    • 江藤, 徹二郎 エトウ, テツジロウ

書誌事項

タイトル

Pendellösung fringes of silicon at low temperatures

タイトル別名

低温におけるシリコンのペンデル縞

著者名

江藤, 徹二郎

著者別名

エトウ, テツジロウ

学位授与大学

九州大学

取得学位

博士 (理学)

学位授与番号

甲第4197号

学位授与年月日

1997-12-25

注記・抄録

博士論文

目次

  1. CONTENTS / p1 (0003.jp2)
  2. Summary / p1 (0004.jp2)
  3. 1 Introduction / p2 (0005.jp2)
  4. 2 Pendellösung fringes / p5 (0008.jp2)
  5. 2.1 Theory / p5 (0008.jp2)
  6. 2.2 Historical development / p11 (0014.jp2)
  7. 3 Experimental / p12 (0015.jp2)
  8. 3.1 Specimen crystals and the holding / p12 (0015.jp2)
  9. 3.2 Diffractometer and the procedure for measuring fringes / p16 (0019.jp2)
  10. 3.3 Examples of observed fringes / p19 (0022.jp2)
  11. 3.4 Effect of thermal treatments / p30 (0033.jp2)
  12. 4 Analysis and Results / p33 (0036.jp2)
  13. 4.1 Determination of the crystal structure factor [数式] / p33 (0036.jp2)
  14. 4.2 Absolute values of [数式] / p46 (0049.jp2)
  15. 4.3 Temperature dependence of [数式] / p49 (0052.jp2)
  16. 4.4 Effect of thermal diffuse scattering / p56 (0059.jp2)
  17. 5 Discussion / p59 (0062.jp2)
  18. 5.1 Temperature dependence of [数式] / p59 (0062.jp2)
  19. 5.2 Electron-density distribution determined by MEM and Fourier analysis / p60 (0063.jp2)
  20. 5.3 Examination of Debye temperature / p82 (0085.jp2)
  21. 5.4 Influence of microdefects / p96 (0099.jp2)
  22. 6 Conclusions / p97 (0100.jp2)
  23. Acknowledgements / p98 (0101.jp2)
  24. Appendices / p99 (0102.jp2)
  25. A.Pendellösung fringes of bent crystals / p99 (0102.jp2)
  26. B.Dawson's formalism for the generalized structure factor / p103 (0106.jp2)
  27. References / p107 (0110.jp2)
0アクセス

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000153284
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000001087342
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000317598
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
ページトップへ