Pendellösung fringes of silicon at low temperatures 低温におけるシリコンのペンデル縞
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著者
書誌事項
- タイトル
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Pendellösung fringes of silicon at low temperatures
- タイトル別名
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低温におけるシリコンのペンデル縞
- 著者名
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江藤, 徹二郎
- 著者別名
-
エトウ, テツジロウ
- 学位授与大学
-
九州大学
- 取得学位
-
博士 (理学)
- 学位授与番号
-
甲第4197号
- 学位授与年月日
-
1997-12-25
注記・抄録
博士論文
目次
- CONTENTS / p1 (0003.jp2)
- Summary / p1 (0004.jp2)
- 1 Introduction / p2 (0005.jp2)
- 2 Pendellösung fringes / p5 (0008.jp2)
- 2.1 Theory / p5 (0008.jp2)
- 2.2 Historical development / p11 (0014.jp2)
- 3 Experimental / p12 (0015.jp2)
- 3.1 Specimen crystals and the holding / p12 (0015.jp2)
- 3.2 Diffractometer and the procedure for measuring fringes / p16 (0019.jp2)
- 3.3 Examples of observed fringes / p19 (0022.jp2)
- 3.4 Effect of thermal treatments / p30 (0033.jp2)
- 4 Analysis and Results / p33 (0036.jp2)
- 4.1 Determination of the crystal structure factor [数式] / p33 (0036.jp2)
- 4.2 Absolute values of [数式] / p46 (0049.jp2)
- 4.3 Temperature dependence of [数式] / p49 (0052.jp2)
- 4.4 Effect of thermal diffuse scattering / p56 (0059.jp2)
- 5 Discussion / p59 (0062.jp2)
- 5.1 Temperature dependence of [数式] / p59 (0062.jp2)
- 5.2 Electron-density distribution determined by MEM and Fourier analysis / p60 (0063.jp2)
- 5.3 Examination of Debye temperature / p82 (0085.jp2)
- 5.4 Influence of microdefects / p96 (0099.jp2)
- 6 Conclusions / p97 (0100.jp2)
- Acknowledgements / p98 (0101.jp2)
- Appendices / p99 (0102.jp2)
- A.Pendellösung fringes of bent crystals / p99 (0102.jp2)
- B.Dawson's formalism for the generalized structure factor / p103 (0106.jp2)
- References / p107 (0110.jp2)