大容量MOSメモリの低消費電力化と高信頼度化に関する研究

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著者

    • 川本, 洋 カワモト, ヒロシ

書誌事項

タイトル

大容量MOSメモリの低消費電力化と高信頼度化に関する研究

著者名

川本, 洋

著者別名

カワモト, ヒロシ

学位授与大学

九州大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

乙第6564号

学位授与年月日

1997-12-03

注記・抄録

博士論文

目次

  1. 目次 / (0003.jp2)
  2. 第1章 序論 / p1 (0004.jp2)
  3. 1.1 研究の背景 / p1 (0004.jp2)
  4. 1.2 研究開発の産業へのインパクト / p7 (0010.jp2)
  5. 1.3 研究開発の経緯 / p11 (0014.jp2)
  6. 1.4 本論文の概要 / p13 (0016.jp2)
  7. 1.5 参考文献 / p14 (0017.jp2)
  8. 第2章 基板上にN型メモリセル、N-Well内に制御回路を構成するMOSメモリ / p16 (0019.jp2)
  9. 2.1 緒言 / p16 (0019.jp2)
  10. 2.2 素子構造についての検討と新方式の提案 / p18 (0021.jp2)
  11. 2.3 ビット線電圧Vcc/2プリチャージ方式 / p21 (0024.jp2)
  12. 2.4 結言 / p25 (0028.jp2)
  13. 2.5 参考文献 / p25 (0028.jp2)
  14. 第3章 新コンセプトによる疑似SRAMの提案と設計・評価 / p27 (0030.jp2)
  15. 3.1 緒言 / p27 (0030.jp2)
  16. 3.2 新しいコンセプトによる疑似SRAMの提案 / p27 (0030.jp2)
  17. 3.3 256/288Kビット疑似RAMの設計 / p31 (0034.jp2)
  18. 3.4 288Kビット疑似SRAMの試作・評価結果 / p37 (0040.jp2)
  19. 3.5 結言 / p43 (0046.jp2)
  20. 3.6 参考文献 / p43 (0046.jp2)
  21. 第4章 CMOS回路方式を用いた1MビットDRAMの開発 / p45 (0048.jp2)
  22. 4.1 緒言 / p45 (0048.jp2)
  23. 4.2 CMOS DRAMの特徴と新機能 / p47 (0050.jp2)
  24. 4.3 CMOS IMビットDRAMの設計 / p49 (0052.jp2)
  25. 4.4 CMOS 1M DRAMの試作・評価結果 / p55 (0058.jp2)
  26. 4.5 CMOS DRAMの新しいアプリケーション / p59 (0062.jp2)
  27. 4.6 結言 / p61 (0064.jp2)
  28. 4.7 参考文献 / p61 (0064.jp2)
  29. 第5章 メモリのα線によるソフトエラーモデルとシミュレーション / p64 (0067.jp2)
  30. 5.1 緒言 / p64 (0067.jp2)
  31. 5.2 α線の発生とSi基板への入射 / p67 (0070.jp2)
  32. 5.3 メモリのソフトエラーメカニズム / p71 (0074.jp2)
  33. 5.4 ソフトエラーシミュレーション / p73 (0076.jp2)
  34. 5.5 強制照射実験とシミュレーションの比較 / p76 (0079.jp2)
  35. 5.6 メモリセル構造とソフトエラー率予測 / p79 (0082.jp2)
  36. 5.7結言 / p83 (0086.jp2)
  37. 5.8 参考文献 / p83 (0086.jp2)
  38. 第6章 歩留まり信頼度向上のための不良救済回路方式 / p85 (0088.jp2)
  39. 6.1 緒言 / p85 (0088.jp2)
  40. 6.2 ヒューズ方式冗長回路 / p88 (0091.jp2)
  41. 6.3 ECC内蔵方式冗長回路 / p90 (0093.jp2)
  42. 6.4 ECC内蔵欠陥救済方式を用いた1MビットMASK ROMの設計・評価 / p92 (0095.jp2)
  43. 6.5 結言 / p95 (0098.jp2)
  44. 6.6 参考文献 / p96 (0099.jp2)
  45. 第7章 結論 / p98 (0101.jp2)
  46. 謝辞 / p101 (0104.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000153310
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000001087368
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000317624
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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