レーザの周波数制御とその応用に関する研究
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Bibliographic Information
- Title
-
レーザの周波数制御とその応用に関する研究
- Author
-
村上, 文夫
- Author(Another name)
-
ムラカミ, フミオ
- University
-
同志社大学
- Types of degree
-
博士 (工学)
- Grant ID
-
乙第157号
- Degree year
-
1998-02-20
Note and Description
博士論文
Table of Contents
- 目次 / p1 (0003.jp2)
- 記号表 / p6 (0006.jp2)
- 第1章 序論 / p1 (0008.jp2)
- 1.1 研究の背景と意義 / p1 (0008.jp2)
- 1.2 本研究の内容 / p9 (0012.jp2)
- 参考文献 / p13 (0014.jp2)
- 第2章 2モード内部鏡型He-Neレーザの発振特性 / p21 (0018.jp2)
- 2.1 序言 / p21 (0018.jp2)
- 2.2 レーザ電場の基本方程式 / p22 (0019.jp2)
- 2.3 媒質の分極 / p25 (0020.jp2)
- 2.4 2モード発振の自己無撞着方程式 / p28 (0022.jp2)
- 2.5 摂動法による運動方程式の積分 / p31 (0023.jp2)
- 2.6 直交偏光2モード発振特性 / p38 (0027.jp2)
- 2.7 結言 / p42 (0029.jp2)
- 参考文献 / p44 (0030.jp2)
- 第3章 2モード法による内部鏡型He-Neレーザの周波数安定化 / p46 (0031.jp2)
- 3.1 序言 / p46 (0031.jp2)
- 3.2 2モード法による周波数安定化の原理 / p49 (0033.jp2)
- 3.3 マイクロプロセッサ制御による2モード安定化システム / p52 (0034.jp2)
- 3.4 レーザ周波数の評価 / p57 (0037.jp2)
- 3.5 結言 / p63 (0040.jp2)
- 参考文献 / p64 (0040.jp2)
- 第4章 2モード安定化レーザによる沃素分子の飽和吸収分光 / p69 (0043.jp2)
- 4.1 序言 / p69 (0043.jp2)
- 4.2 飽和吸収分光の原理 / p71 (0044.jp2)
- 4.3 沃素分子の吸収線の構造 / p77 (0047.jp2)
- 4.4 飽和吸収信号の検出 / p81 (0049.jp2)
- 4.5 FM分光法の原理 / p91 (0054.jp2)
- 4.6 FM分光法による飽和吸収信号検出実験 / p94 (0056.jp2)
- 4.7 結言 / p96 (0057.jp2)
- 参考文献 / p96 (0057.jp2)
- 第5章 2モード安定化レーザの周波数安定度向上 / p99 (0058.jp2)
- 5.1 序言 / p99 (0058.jp2)
- 5.2 沃素飽和吸収スペクトルへの周波数安定化 / p102 (0060.jp2)
- 5.3 短期安定度の向上 / p110 (0064.jp2)
- 5.4 結言 / p121 (0069.jp2)
- 参考文献 / p122 (0070.jp2)
- 第6章 2モード安定化レーザによるヘテロダイン変位計測 / p127 (0072.jp2)
- 6.1 序言 / p127 (0072.jp2)
- 6.2 2モード内部鏡型He-Neレーザのモード間ビート周波数 / p129 (0073.jp2)
- 6.3 ヘテロダイン干渉光学系 / p132 (0075.jp2)
- 6.4 中間周波数変換部 / p134 (0076.jp2)
- 6.5 高分解能位相計 / p136 (0077.jp2)
- 6.6 変位測定例および非線形誤差の検討 / p137 (0077.jp2)
- 6.7 非線型誤差の電気的補償 / p141 (0079.jp2)
- 6.8 緒言 / p142 (0080.jp2)
- 参考文献 / p143 (0080.jp2)
- 第7章 2モード安定化レーザによるドップラー振動計測 / p145 (0081.jp2)
- 7.1 序言 / p145 (0081.jp2)
- 7.2 運動物体からの反射によるドップラー周波数偏移 / p146 (0082.jp2)
- 7.3 ドップラー周波数偏移を用いた振動計測 / p148 (0083.jp2)
- 7.4 光ファイバ遅延線による周波数弁別原理 / p150 (0084.jp2)
- 7.5 振動検出実験 / p154 (0086.jp2)
- 7.6 結言 / p156 (0087.jp2)
- 参考文献 / p156 (0087.jp2)
- 第8章 半導体レーザの直接周波数変調特性を利用した干渉計測 / p158 (0088.jp2)
- 8.1 序言 / p158 (0088.jp2)
- 8.2 動作原理 / p160 (0089.jp2)
- 8.3 変位測定への応用 / p164 (0091.jp2)
- 8.4 基板の温度測定への応用 / p166 (0092.jp2)
- 8.5 参照干渉計の安定化 / p170 (0094.jp2)
- 8.6 測定範囲の拡大 / p172 (0095.jp2)
- 8.7 結言 / p173 (0096.jp2)
- 参考文献 / p175 (0097.jp2)
- 第9章 半導体レーザ励起固体レーザの周波数制御 / p179 (0099.jp2)
- 9.1 序言 / p179 (0099.jp2)
- 9.2 Tm:YAG結晶のレーザ遷移 / p181 (0100.jp2)
- 9.3 単一縦モードLD励起Tm:YAGレーザー / p182 (0101.jp2)
- 9.4 C0₂吸収スペクトル検出実験 / p189 (0104.jp2)
- 9.5 結言 / p190 (0105.jp2)
- 参考文献 / p192 (0106.jp2)
- 第10章 結論 / p194 (0107.jp2)
- 謝辞 / (0110.jp2)