遺伝的アルゴリズムにおけるマクロ適応度表現とその画像処理系への適用

この論文をさがす

著者

    • 松井, 和宏 マツイ, カズヒロ

書誌事項

タイトル

遺伝的アルゴリズムにおけるマクロ適応度表現とその画像処理系への適用

著者名

松井, 和宏

著者別名

マツイ, カズヒロ

学位授与大学

東京工業大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

甲第3530号

学位授与年月日

1997-03-26

注記・抄録

博士論文

目次

  1. 論文目録 / (0002.jp2)
  2. 目次 / p1 (0004.jp2)
  3. 1.序論 / p1 (0007.jp2)
  4. 1.1 はじめに / p1 (0007.jp2)
  5. 1.2 本論文の構成 / p5 (0011.jp2)
  6. 2.遺伝的アルゴリズムにおけるマクロ適応度の導入 / p7 (0013.jp2)
  7. 2.1 はじめに / p7 (0013.jp2)
  8. 2.2 遺伝的アルゴリズム / p9 (0015.jp2)
  9. 2.3 マクロ適応度 / p14 (0020.jp2)
  10. 2.4 まとめ / p23 (0029.jp2)
  11. 3.報酬つきマルコフ過程による遺伝的アルゴリズムの定式化 / p24 (0030.jp2)
  12. 3.1 はじめに / p24 (0030.jp2)
  13. 3.2 時間的マクロ適応度 / p27 (0033.jp2)
  14. 3.3 報酬つきマルコフ過程によるGA解析法 / p30 (0036.jp2)
  15. 3.4 最小count-one問題の解析 / p34 (0040.jp2)
  16. 3.5 最小だまし問題の解析 / p45 (0051.jp2)
  17. 3.6 考察 / p54 (0060.jp2)
  18. 3.7 まとめ / p60 (0066.jp2)
  19. 4.遺伝的アルゴリズムにおける協調と自律分散系への拡張 / p61 (0067.jp2)
  20. 4.1 はじめに / p61 (0067.jp2)
  21. 4.2 自律分散系 / p63 (0069.jp2)
  22. 4.3 自律分散型遺伝的アルゴリズムCGA / p66 (0072.jp2)
  23. 4.4 CGAにおける協調とマクロ適応度 / p75 (0081.jp2)
  24. 4.5 CGAの適用分野 / p78 (0084.jp2)
  25. 4.6 まとめ / p80 (0086.jp2)
  26. 5.医用画像の非線形写像への適用 / p81 (0087.jp2)
  27. 5.1 はじめに / p81 (0087.jp2)
  28. 5.2 非線形写像システムの概要 / p83 (0089.jp2)
  29. 5.3 下位レベル探索とミクロ適応度 / p88 (0094.jp2)
  30. 5.4 上位レベル探索とマクロ適応度 / p98 (0104.jp2)
  31. 5.5 画像変形における正則化 / p102 (0108.jp2)
  32. 5.6 移動ベクトルの再帰的自己増殖 / p105 (0111.jp2)
  33. 5.7 実験結果 / p110 (0116.jp2)
  34. 5.8 考察 / p117 (0123.jp2)
  35. 5.9 まとめ / p119 (0125.jp2)
  36. 6.画像のセグメンテーションヘの適用 / p120 (0126.jp2)
  37. 6.1 はじめに / p120 (0126.jp2)
  38. 6.2 システム構成の概要 / p124 (0130.jp2)
  39. 6.3 準備-各種の特徴量 / p125 (0131.jp2)
  40. 6.4 特徴量評価基準とマクロ適応度 / p130 (0136.jp2)
  41. 6.5 GAによる特徴量選択 / p138 (0144.jp2)
  42. 6.6 実験結果 / p141 (0147.jp2)
  43. 6.7 考察 / p156 (0162.jp2)
  44. 6.8 まとめ / p158 (0164.jp2)
  45. 7.結論 / p159 (0165.jp2)
  46. 謝辞 / p162 (0168.jp2)
  47. 本論文に関連した学会報告 / p163 (0169.jp2)
  48. 参考文献 / p164 (0170.jp2)
  49. 付録 第三章における式の導出結果の詳細 / p169 (0175.jp2)
  50. A.最小count-one問題での期待最大適応度 / p169 (0175.jp2)
  51. B.最小count-one問題での期待平均適応度 / p170 (0176.jp2)
  52. C.最小だまし問題での期待最大適応度 / p172 (0178.jp2)
0アクセス

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000153732
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000001092746
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000318046
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
ページトップへ