深海ニュートリノ実験における光検出器の開発およびAGN探索のシミュレーション研究

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著者

    • 松本, 隆行 マツモト, タカユキ

書誌事項

タイトル

深海ニュートリノ実験における光検出器の開発およびAGN探索のシミュレーション研究

著者名

松本, 隆行

著者別名

マツモト, タカユキ

学位授与大学

東北大学

取得学位

博士 (理学)

学位授与番号

甲第6131号

学位授与年月日

1997-06-25

注記・抄録

博士論文

目次

  1. 要旨 / (0005.jp2)
  2. 目次 / (0008.jp2)
  3. 1 Introduction / p13 (0018.jp2)
  4. 2 ニュートリノ天文学 / p17 (0022.jp2)
  5. 2.1 高エネルギー活動天体 / p17 (0022.jp2)
  6. 2.2 高エネルギーγ‐線生成プロセス / p24 (0029.jp2)
  7. 2.3 高エネルギーニュートリノ天文学 / p28 (0033.jp2)
  8. 2.4 ニュートリノとγ‐線の対比 / p41 (0046.jp2)
  9. 3 DUMAND計画 / p45 (0050.jp2)
  10. 3.1 DUMAND計画 / p45 (0050.jp2)
  11. 3.2 DUMAND検出器ハードウェア / p48 (0053.jp2)
  12. 3.3 検出器環境と検出器性能概略 / p52 (0057.jp2)
  13. 4 光検出器 / p59 (0064.jp2)
  14. 4.1 光検出器ハードウェア / p59 (0064.jp2)
  15. 4.2 光検出器ソフトウェアとトラブル処理 / p68 (0073.jp2)
  16. 4.3 光検出器の基本的機能 / p69 (0074.jp2)
  17. 4.4 光検出器の問題 / p70 (0075.jp2)
  18. 4.5 光検出器の製作 / p70 (0075.jp2)
  19. 5 光検出器に対する各種テストとその性能 / p72 (0077.jp2)
  20. 5.1 光検出器に対する試験 / p72 (0077.jp2)
  21. 5.2 光検出器性能 / p77 (0082.jp2)
  22. 5.3 較正実験結果のまとめ / p93 (0098.jp2)
  23. 6 検出器設置と深海底におけるデータ / p97 (0102.jp2)
  24. 6.1 '93検出器設置 / p97 (0102.jp2)
  25. 6.2 '93data / p102 (0107.jp2)
  26. 7 DUMAND検出器による点源探索 / p126 (0131.jp2)
  27. 7.1 モンテカルロシミュレーション / p126 (0131.jp2)
  28. 7.2 DUMAND検出器の基本性能 / p128 (0133.jp2)
  29. 7.3 ニュートリノフラックス / p134 (0139.jp2)
  30. 7.4 検出予想イベント数 / p142 (0147.jp2)
  31. 8 結論 / p146 (0151.jp2)
  32. A 高エネルギー天文学 / p148 (0153.jp2)
  33. A.1 天文学で用いられる座標系 / p148 (0153.jp2)
  34. A.2 天体までの距離 / p150 (0155.jp2)
  35. A.3 フラックス / p150 (0155.jp2)
  36. A.4 二体反応の運動学 / p154 (0159.jp2)
  37. A.5 チェレンコフ放射 / p155 (0160.jp2)
  38. A.6 DUMAND検出器において予想されるニュートリノ検出イベント数 / p156 (0161.jp2)
  39. A.7 点源の識別 / p160 (0165.jp2)
  40. B 光検出器ハードウェア / p164 (0169.jp2)
  41. B.1 光検出器関係のテストの一覧 / p164 (0169.jp2)
  42. B.2 光学系 / p164 (0169.jp2)
  43. B.3 較正実験用暗箱 / p166 (0171.jp2)
  44. B.4 較正実験用恒温槽 / p168 (0173.jp2)
  45. B.5 光電子増倍管の開発 / p168 (0173.jp2)
  46. B.6 光の強さの表わし方 / p169 (0174.jp2)
  47. B.7 計数率と光電子数 / p169 (0174.jp2)
  48. B.8 ゲインの定義 / p170 (0175.jp2)
  49. B.9 印加電圧値の決定方法 / p171 (0176.jp2)
  50. B.10 較正実験における光電子数計算方法 / p171 (0176.jp2)
  51. B.11 TOT、Qしきい値の決定方法 / p172 (0177.jp2)
  52. B.12 OM殻による検出効率の向上 / p173 (0178.jp2)
  53. B.13 直射日光照射による光電子増倍管に対する影響 / p176 (0181.jp2)
  54. C DUMAND計画 / p187 (0192.jp2)
  55. C.1 DUMAND計画共同研究者リスト / p187 (0192.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000153920
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000001092934
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000318234
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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