電子ビームテスタによるLSI故障診断の高効率化に関する研究

この論文をさがす

著者

    • 久慈, 憲夫 クジ, ノリオ

書誌事項

タイトル

電子ビームテスタによるLSI故障診断の高効率化に関する研究

著者名

久慈, 憲夫

著者別名

クジ, ノリオ

学位授与大学

東北大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

乙第7332号

学位授与年月日

1997-11-12

注記・抄録

博士論文

論文

目次

  1. 目次 / p1 (0003.jp2)
  2. 第1章序論 / p1 (0005.jp2)
  3. 1.1 研究の背景 / p1 (0005.jp2)
  4. 1.2 研究の目的と課題 / p9 (0009.jp2)
  5. 1.3 論文の構成 / p11 (0010.jp2)
  6. 第1章の参考文献 / p13 (0011.jp2)
  7. 第2章 診断箇所自動化のための配線地図照合技術 / p16 (0013.jp2)
  8. 2.1 はじめに / p16 (0013.jp2)
  9. 2.2 配線地図の考え方 / p17 (0013.jp2)
  10. 2.3 配線地図の作成法 / p19 (0014.jp2)
  11. 2.4 自動診断電子ビームデスタのシステム構成 / p23 (0016.jp2)
  12. 2.5 観察像と配線地図との照合による診断箇所の自動抽出 / p25 (0017.jp2)
  13. 2.6 動作解析への応用 / p28 (0019.jp2)
  14. 2.7 配線地図自動照合技術の利点と展開 / p36 (0023.jp2)
  15. 2.8 まとめ / p39 (0024.jp2)
  16. 第2章の参考文献 / p40 (0025.jp2)
  17. 第3章 故障箇所自動追跡のための設計論理地図照合技術 / p42 (0026.jp2)
  18. 3.1 はじめに / p42 (0026.jp2)
  19. 3.2 設計論理地図の考え方 / p43 (0026.jp2)
  20. 3.3 故障箇所自動追跡システムの構成 / p45 (0027.jp2)
  21. 3.4 観測像と設計論理地図との照合による故障配線の自動抽出 / p49 (0029.jp2)
  22. 3.5 故障箇所の追跡アルゴリズム / p53 (0031.jp2)
  23. 3.6 論理LSI診断への応用 / p57 (0033.jp2)
  24. 3.7 設計論理地図照合による故障箇所自動追跡技術の利点と展開 / p60 (0035.jp2)
  25. 3.8 まとめ / p64 (0037.jp2)
  26. 第3章の参考文献 / p65 (0037.jp2)
  27. 第4章 故障診断高速化のための論理深度地図照合技術 / p67 (0038.jp2)
  28. 4.1はじめに / p67 (0038.jp2)
  29. 4.2 スタティック論理故障診断とその技術課題 / p69 (0039.jp2)
  30. 4.3 論理深度地図の考え方 / p73 (0041.jp2)
  31. 4.4 論理故障の追跡アルゴリズム / p76 (0043.jp2)
  32. 4.5 論理故障追跡時間の改善と評価 / p78 (0044.jp2)
  33. 4.6 論理LSIのマージン性故障診断への応用 / p83 (0046.jp2)
  34. 4.7 論理深度地図照合技術の利点と展開 / p88 (0049.jp2)
  35. 4.8 まとめ / p89 (0049.jp2)
  36. 第4章の参考文献 / p90 (0050.jp2)
  37. 第5章 論理期待値作成高速化・効率化のための診断経路追跡技術 / p91 (0050.jp2)
  38. 5.1 はじめに / p91 (0050.jp2)
  39. 5.2 故障の診断経路追跡のためのガイデッドプローブ法 / p92 (0051.jp2)
  40. 5.3 診断経路設定のための論理期待値作成法の概要 / p96 (0053.jp2)
  41. 5.4 論理期待値作成法の効率化 / p97 (0053.jp2)
  42. 5.5 論理期待値作成法による故障診断の効率化と技術課題 / p100 (0055.jp2)
  43. 5.6 論理LSI診断への応用例 / p108 (0059.jp2)
  44. 5.7 まとめ / p110 (0060.jp2)
  45. 第5章の参考文献 / p111 (0060.jp2)
  46. 第6章 故障診断容易化のためのLSI設計技術 / p112 (0061.jp2)
  47. 6.1 はじめに / p112 (0061.jp2)
  48. 6.2 多層配線LSIの故障診断 / p113 (0061.jp2)
  49. 6.3 故障診断パッドの配置とLSI設計 / p115 (0062.jp2)
  50. 6.4 診断パッドの自動配置アルゴリズム / p118 (0064.jp2)
  51. 6.5 大規模LSIの故障診断の効率化と重要性 / p121 (0065.jp2)
  52. 6.6 まとめ / p124 (0067.jp2)
  53. 第6章の参考文献 / p124 (0067.jp2)
  54. 第7章 結論 / p126 (0068.jp2)
  55. 謝辞 / p129 (0069.jp2)
  56. 付録 発光発熱解析との併用による論理故障原因の推定 / p131 (0070.jp2)
  57. A.1 はじめに / p131 (0070.jp2)
  58. A.2 論理故障診断の基本手順 / p132 (0071.jp2)
  59. A.3 故障診断の回路故障への対応 / p132 (0071.jp2)
  60. A.4 回路故障のモデル化 / p134 (0072.jp2)
  61. A.5 論理シミュレーションによる論理故障の検証 / p144 (0077.jp2)
  62. A.6 論理故障の検証事例 / p147 (0078.jp2)
  63. A.7 まとめ / p151 (0080.jp2)
0アクセス

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000154049
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000001093060
  • DOI(NDL)
  • 本文言語コード
    • jpn
  • NDL書誌ID
    • 000000318363
  • データ提供元
    • 機関リポジトリ
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
ページトップへ