液体封止Bridgman法によるZnSe単結晶成長に関する基礎的研究

この論文をさがす

著者

    • 岡田, 廣 オカダ, ヒロシ

書誌事項

タイトル

液体封止Bridgman法によるZnSe単結晶成長に関する基礎的研究

著者名

岡田, 廣

著者別名

オカダ, ヒロシ

学位授与大学

東北大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

乙第7351号

学位授与年月日

1997-12-10

注記・抄録

博士論文

目次

  1. 目次 / p1 (0003.jp2)
  2. 第1章 序論 / p1 (0005.jp2)
  3. 1-1 研究の背景 / p1 (0005.jp2)
  4. 1-2 本研究の目的 / p7 (0008.jp2)
  5. 1-3 本論文の構成 / p10 (0010.jp2)
  6. 参考文献 / p13 (0011.jp2)
  7. 第2章 試料封入式示差熱分析法(DTA)によるZn-Se系状態図の検討 / p18 (0014.jp2)
  8. 2-1 序言 / p18 (0014.jp2)
  9. 2-2 実験方法 / p20 (0015.jp2)
  10. 2-3 実験結果および考察 / p24 (0017.jp2)
  11. 2-4 結言 / p37 (0023.jp2)
  12. 参考文献 / p38 (0024.jp2)
  13. 第3章 融液成長ZnSe単結晶における相転移に起因した構造欠陥導入機構 / p40 (0025.jp2)
  14. 3-1 序言 / p40 (0025.jp2)
  15. 3-2 実験方法 / p44 (0027.jp2)
  16. 3-3 実験結果 / p50 (0030.jp2)
  17. 3-4 ZnSe単結晶における相転移に起因する構造欠陥の生成機構に関する考察 / p76 (0043.jp2)
  18. 3-5 結言 / p88 (0049.jp2)
  19. 参考文献 / p89 (0049.jp2)
  20. 第4章 融液成長ZnSe単結晶中の深い電子トラップの評価 / p91 (0050.jp2)
  21. 4-1 序言 / p91 (0050.jp2)
  22. 4-2 等温過渡容量法(ICTS法)の原理 / p92 (0051.jp2)
  23. 4-3 実験方法 / p95 (0052.jp2)
  24. 4-4 実験結果 / p99 (0054.jp2)
  25. 4-5 融液成長ZnSe中のトラップの詳細な解析および考察 / p110 (0060.jp2)
  26. 4-6 結言 / p142 (0076.jp2)
  27. 参考文献 / p144 (0077.jp2)
  28. 第5章 B₂O₃液体封止剤成長したZnSe単結晶のフォトルミネッセンス(PL)法による評価 / p147 (0078.jp2)
  29. 5-1 序言 / p147 (0078.jp2)
  30. 5-2 実験方法 / p148 (0079.jp2)
  31. 5-3 実験結果 / p151 (0080.jp2)
  32. 5-4 考察 / p161 (0085.jp2)
  33. 5-5 結言 / p192 (0101.jp2)
  34. 参考文献 / p193 (0101.jp2)
  35. 第6章 結論 / p195 (0102.jp2)
  36. Appendix:ICTS法および関連法による深い準位評価における表式 / p201 (0105.jp2)
  37. 謝辞 / p211 (0110.jp2)
2アクセス

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000154068
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000001093079
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000318382
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
ページトップへ