溶接部欠陥の高精度検出・計測のための遠隔誘導型電位差法の開発に関する研究

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著者

    • 佐藤, 康元 サトウ, ヤスモト

書誌事項

タイトル

溶接部欠陥の高精度検出・計測のための遠隔誘導型電位差法の開発に関する研究

著者名

佐藤, 康元

著者別名

サトウ, ヤスモト

学位授与大学

東北大学

取得学位

博士(工学)

学位授与番号

甲第6849号

学位授与年月日

1999-03-25

注記・抄録

博士論文

目次

  1. 目次 / p1 (0003.jp2)
  2. 第1章 序論 / p1 (0007.jp2)
  3. 参考文献 / p16 (0022.jp2)
  4. 第2章 電磁誘導現象を利用した電位差法 / p19 (0025.jp2)
  5. 2.1 はじめに / p19 (0025.jp2)
  6. 2.2 電磁誘導現象を利用した電位差法の原理 / p21 (0027.jp2)
  7. 2.3 手動計測システム / p23 (0029.jp2)
  8. 2.4 自動計測システム / p27 (0033.jp2)
  9. 2.5 手動計測と自動計測の比較 / p33 (0039.jp2)
  10. 2.6 まとめ / p36 (0042.jp2)
  11. 参考文献 / p37 (0043.jp2)
  12. 第3章 電磁誘導現象を利用した電位差法の誘導電流および電位差分布の有限要素法解析 / p39 (0045.jp2)
  13. 3.1 はじめに / p39 (0045.jp2)
  14. 3.2 A-φ法による辺要素有限要素法 / p40 (0046.jp2)
  15. 3.3 解析プログラムおよび要素分割の検証 / p45 (0051.jp2)
  16. 3.4 裏面欠陥の電位差分布 / p59 (0065.jp2)
  17. 3.5 まとめ / p68 (0074.jp2)
  18. 参考文献 / p69 (0075.jp2)
  19. 第4章 集中誘導型交流電位差法による裏面欠陥の計測・評価 / p71 (0077.jp2)
  20. 4.1 はじめに / p71 (0077.jp2)
  21. 4.2 計測方法 / p73 (0079.jp2)
  22. 4.3 裏面欠陥の探傷特性-検出感度と主要計測パラメータ / p81 (0087.jp2)
  23. 4.4 S/N比改善による裏面欠陥検出感度の向上 / p87 (0093.jp2)
  24. 4.5 溶接部裏面欠陥の計測結果および考察 / p95 (0101.jp2)
  25. 4.6 まとめ / p97 (0103.jp2)
  26. 参考文献 / p98 (0104.jp2)
  27. 第5章 分離誘導型電位差法による溶接部裏面欠陥の計測・評価 / p99 (0105.jp2)
  28. 5.1 はじめに / p99 (0105.jp2)
  29. 5.2 計測方法 / p100 (0106.jp2)
  30. 5.3 計測パラメータと検出感度 / p108 (0114.jp2)
  31. 5.4 溶接部裏面欠陥の計測 / p120 (0126.jp2)
  32. 5.5 まとめ / p127 (0133.jp2)
  33. 参考文献 / p129 (0135.jp2)
  34. 第6章 遠隔誘導型電位差法を用いた欠陥の高精度検出・評価 / p130 (0136.jp2)
  35. 6.1 はじめに / p130 (0136.jp2)
  36. 6.2 試験片および探触子 / p132 (0138.jp2)
  37. 6.3 表面欠陥に対する特性 / p140 (0146.jp2)
  38. 6.4 裏面欠陥の計測 / p146 (0152.jp2)
  39. 6.5 溶接部裏面欠陥の計測 / p153 (0159.jp2)
  40. 6.6 まとめ / p161 (0167.jp2)
  41. 参考文献 / p163 (0169.jp2)
  42. 第7章 結論 / p164 (0170.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000170868
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000171142
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000335182
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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