双方向連想記憶装置の記憶容量及び雑音特性に関する確率的解析の研究

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著者

    • 川畑, 豊 カワバタ, ユタカ

書誌事項

タイトル

双方向連想記憶装置の記憶容量及び雑音特性に関する確率的解析の研究

著者名

川畑, 豊

著者別名

カワバタ, ユタカ

学位授与大学

金沢工業大学

取得学位

博士(工学)

学位授与番号

甲第34号

学位授与年月日

1999-03-11

注記・抄録

博士論文

目次

  1. 目次 / p1 (0006.jp2)
  2. 1 序論 / p3 (0008.jp2)
  3. 1.1 研究背景 / p3 (0008.jp2)
  4. 1.2 ニューラルネットワークの有効性 / p5 (0010.jp2)
  5. 1.3 本研究の位置づけ / p6 (0011.jp2)
  6. 1.4 本研究の意義と各章の構成 / p7 (0012.jp2)
  7. 2 双方向連想記憶モデル / p9 (0014.jp2)
  8. 2.1 序 / p9 (0014.jp2)
  9. 2.2 ニューラルネットワーク / p10 (0015.jp2)
  10. 2.3 双方向連想記憶(BAM)モデルの構造 / p15 (0020.jp2)
  11. 3 確率的解析方法 / p21 (0026.jp2)
  12. 3.1 序 / p21 (0026.jp2)
  13. 3.2 特性関数法 / p22 (0027.jp2)
  14. 3.3 直交関数法 / p28 (0033.jp2)
  15. 4 確率的解析方法のBAMへの適用 / p30 (0035.jp2)
  16. 4.1 序 / p30 (0035.jp2)
  17. 4.2 2nd-0rder BAM の想起率 / p30 (0035.jp2)
  18. 4.3 特性関数法による1ビット誤り率の計算 / p34 (0039.jp2)
  19. 4.4 直交関数法による1ビット誤り率の計算 / p37 (0042.jp2)
  20. 4.5 考察 / p40 (0045.jp2)
  21. 5 確率的手法によるノイズ耐性評価 / p44 (0049.jp2)
  22. 5.1 序 / p44 (0049.jp2)
  23. 5.2 計算機シミュレーションによるノイズ耐性の計算 / p44 (0049.jp2)
  24. 5.3 特性関数法によるノイズ耐性解析 / p46 (0051.jp2)
  25. 5.4 直交関数法によるノイズ解析 / p49 (0054.jp2)
  26. 5.5 2nd-0rder BAM におけるノイズビットの許容範囲 / p51 (0056.jp2)
  27. 5.6 本章のまとめ / p55 (0060.jp2)
  28. 6 結論 / p57 (0062.jp2)
  29. 参考文献 / p60 (0065.jp2)
  30. 謝辞 / p63 (0068.jp2)
  31. 関連論文 / p64 (0069.jp2)
  32. 研究会 / p65 (0070.jp2)
  33. 全国大会 / p66 (0071.jp2)
1アクセス

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000173867
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000174143
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000338181
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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