分離濃縮法を用いた高純度材料中の微量不純物の全反射蛍光X線分析法に関する研究

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著者

    • 山口, 仁志 ヤマグチ, ヒトシ

書誌事項

タイトル

分離濃縮法を用いた高純度材料中の微量不純物の全反射蛍光X線分析法に関する研究

著者名

山口, 仁志

著者別名

ヤマグチ, ヒトシ

学位授与大学

茨城大学

取得学位

博士(工学)

学位授与番号

甲第78号

学位授与年月日

1999-03-24

注記・抄録

博士論文

目次

  1. 目次 / (0013.jp2)
  2. 第1章 序論 / p1 (0017.jp2)
  3. 1.1 高純度材料の現状 / p1 (0017.jp2)
  4. 1.2 研究目的 / p2 (0018.jp2)
  5. 1.3 本論文の構成 / p3 (0019.jp2)
  6. 参考文献 / p5 (0021.jp2)
  7. 第2章 原理 / p6 (0022.jp2)
  8. 2.1 全反射蛍光X線分析 / p6 (0022.jp2)
  9. 2.2.分離法 / p18 (0034.jp2)
  10. 参考文献 / p24 (0040.jp2)
  11. 第3章 疎水性フイルムを用いる全反射蛍光X線分析法 / p27 (0043.jp2)
  12. 3.1 緒言 / p27 (0043.jp2)
  13. 3.2 実験 / p28 (0044.jp2)
  14. 3.3 実験結果及び考察 / p29 (0045.jp2)
  15. 3.4 結言 / p33 (0049.jp2)
  16. 参考文献 / p35 (0051.jp2)
  17. 第4章 マトリックス電解分離―全反射蛍光X線分析法による高純度銅の定量 / p36 (0052.jp2)
  18. 4.1 緒言 / p36 (0052.jp2)
  19. 4.2 実験 / p37 (0053.jp2)
  20. 4.3 実験結果及び考察 / p38 (0054.jp2)
  21. 4.4 検出限界 / p42 (0058.jp2)
  22. 4.5 実試料への応用 / p42 (0058.jp2)
  23. 参考文献 / p44 (0060.jp2)
  24. 第5章 均一液液抽出法を用いる全反射蛍光X線分析法 / p45 (0061.jp2)
  25. 5.1 緒言 / p45 (0061.jp2)
  26. 5.2 実験 / p46 (0062.jp2)
  27. 5.3 結果及び考察 / p47 (0063.jp2)
  28. 5.4 結言 / p51 (0067.jp2)
  29. 参考文献 / p53 (0069.jp2)
  30. 第6章 点滴ろ紙の高機能化とその蛍光X線分析法への応用 / p54 (0070.jp2)
  31. 6.1 緒言 / p54 (0070.jp2)
  32. 6.2 実験 / p55 (0071.jp2)
  33. 6.3 結果及び考察 / p55 (0071.jp2)
  34. 6.4 結言 / p60 (0076.jp2)
  35. 参考文献 / p62 (0078.jp2)
  36. 第7章 総括 / p63 (0079.jp2)
  37. 研究論文目録 / p66 (0082.jp2)
  38. 謝辞 / p68 (0084.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000174739
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000175016
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000339053
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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