擬似ヘテロダイン検波を用いた光ファイバマイケルソン干渉計の高安定化

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著者

    • 木村, 匡 キムラ, タダシ

書誌事項

タイトル

擬似ヘテロダイン検波を用いた光ファイバマイケルソン干渉計の高安定化

著者名

木村, 匡

著者別名

キムラ, タダシ

学位授与大学

東京農工大学

取得学位

博士(工学)

学位授与番号

乙第43号

学位授与年月日

1999-03-25

注記・抄録

博士論文

目次

  1. 目次 / p1 (0003.jp2)
  2. 第1章 序論 / p1 (0007.jp2)
  3. 1.1 光ファイバ干渉計技術の歴史的背景 / p1 (0007.jp2)
  4. 1.2 光ファイバ干渉計の特長 / p3 (0009.jp2)
  5. 1.3 本研究の目的 / p5 (0011.jp2)
  6. 1.4 本論文の概要 / p6 (0012.jp2)
  7. 参考文献 / p9 (0015.jp2)
  8. 第2章 擬似ヘテロダイン検波を用いた光ファイバマイケルソン干渉計の安定化 / p14 (0020.jp2)
  9. 2.1 まえがき / p14 (0020.jp2)
  10. 2.2 光ファイバマイケルソン干渉計の平衡型化と検波方式 / p15 (0021.jp2)
  11. 2.3 光ファイバジャイロ構成によるPZT位相変調器の変調指数の温度依存性の検討 / p22 (0028.jp2)
  12. 2.4 疑似ヘテロダイン検波の変調指数の安定化 / p31 (0037.jp2)
  13. 2.5 PZT位相変調器の挿入位置の擬似ヘテロダイン検波に及ぼす効果 / p37 (0043.jp2)
  14. 2.6 むすび / p39 (0045.jp2)
  15. 参考文献 / p40 (0046.jp2)
  16. 第3章 リフレクトメトリ構成による安定化効果 / p43 (0049.jp2)
  17. 3.1 まえがき / p43 (0049.jp2)
  18. 3.2 疑似ヘテロダイン検波を用いた光ファイバ長計測の原理 / p44 (0050.jp2)
  19. 3.3 擬似ヘテロダイン検波の周波数測定による光ファイバ長計測 / p46 (0052.jp2)
  20. 3.4 擬似ヘテロダイン検波の位相偏移測定による光ファイバ長計測 / p52 (0058.jp2)
  21. 3.5 変調指数制御による変調指数の安定化の具体化 / p60 (0066.jp2)
  22. 3.6 むすび / p65 (0071.jp2)
  23. 参考文献 / p65 (0071.jp2)
  24. 第4章 示差型熱量計構成による安定化効果 / p68 (0074.jp2)
  25. 4.1 まえがき / p68 (0074.jp2)
  26. 4.2 平衡型光ファイバマイケルソン干渉計を用いた示型差熱計測の原理 / p68 (0074.jp2)
  27. 4.3 示差型熱計測実験 / p75 (0081.jp2)
  28. 4.4 測定誤差の検討 / p81 (0087.jp2)
  29. 4.5 検討 / p83 (0089.jp2)
  30. 4.6 むすび / p85 (0091.jp2)
  31. 参考文献 / p85 (0091.jp2)
  32. 第5章 伝導型熱量計構成による安定化効果 / p87 (0093.jp2)
  33. 5.1 まえがき / p87 (0093.jp2)
  34. 5.2 平衡型光ファイバ干渉計を用いた伝導型熱量計の原理 / p87 (0093.jp2)
  35. 5.3 実験および検討 / p93 (0099.jp2)
  36. 5.4 伝導型熱量計の差動構成 / p96 (0102.jp2)
  37. 5.5 検出感度および測定誤差の検討 / p99 (0105.jp2)
  38. 5.6 むすび / p100 (0106.jp2)
  39. 参考文献 / p100 (0106.jp2)
  40. 第6章 低コヒーレンスによる光源の周波数変動及び戻り光雑音に対する安定化 / p102 (0108.jp2)
  41. 6.1 まえがき / p102 (0108.jp2)
  42. 6.2 平衡型光ファイバ干渉計の光源の周波数変動による位相誤差の安定化 / p103 (0109.jp2)
  43. 6.3 低コヒーレンス光源を用いた干渉アームの高精度等長化 / p103 (0109.jp2)
  44. 6.4 コヒーレンス度の傾きによる干渉アームの高精度等長化 / p108 (0114.jp2)
  45. 6.5 低コヒーレンス光源による高精度アーム長差観測を用いた等長化研磨法 / p115 (0121.jp2)
  46. 6.6 むすび / p117 (0123.jp2)
  47. 参考文献 / p118 (0124.jp2)
  48. 第7章 結論 / p119 (0125.jp2)
  49. 謝辞 / p121 (0127.jp2)
  50. 本研究に関する発表論文 / p122 (0128.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000174896
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000175173
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000339210
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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