撓みをもつ弾性振動平板まわりの流れに関する研究

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著者

    • 髙藤, 圭一郎 タカトウ, ケイイチロウ

書誌事項

タイトル

撓みをもつ弾性振動平板まわりの流れに関する研究

著者名

髙藤, 圭一郎

著者別名

タカトウ, ケイイチロウ

学位授与大学

宇都宮大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

乙第83号

学位授与年月日

1999-09-30

注記・抄録

博士論文

1999

目次

  1. 目次 / (0003.jp2)
  2. 第1章 序論 / p1 (0005.jp2)
  3. 第1節 研究の背景 / p1 (0005.jp2)
  4. 第2節 従来の研究 / p2 (0006.jp2)
  5. 第3節 本研究の目的と構成 / p3 (0007.jp2)
  6. 第2章 現象の確認 / p4 (0008.jp2)
  7. 第1節 緒言 / p4 (0008.jp2)
  8. 第2節 温度場計測による流れの可視化 / p4 (0008.jp2)
  9. 第1項 温度場計測実験 / p4 (0008.jp2)
  10. 第2項 実験装置および方法 / p7 (0011.jp2)
  11. 第3項 実験結果と考察 / p14 (0018.jp2)
  12. 第3節 流体―構造体の連成現象 / p20 (0024.jp2)
  13. 第2項 実験装置 / p23 (0027.jp2)
  14. 第3項 試験振動子 / p23 (0027.jp2)
  15. 第4項 微小振動子による流れの誘導 / p24 (0028.jp2)
  16. 第5項 共振振動数の振幅依存性 / p27 (0031.jp2)
  17. 第6項 振動子のエネルギー収支 / p27 (0031.jp2)
  18. 第4節 インピーダンスモデルの修正 / p33 (0037.jp2)
  19. 第1項 実験装置および方法 / p33 (0037.jp2)
  20. 第2項 実験結果および考察 / p39 (0043.jp2)
  21. 第5節 結言 / p50 (0054.jp2)
  22. 第3章 数値計算手法 / p52 (0056.jp2)
  23. 第1節 緒言 / p52 (0056.jp2)
  24. 第2節 オイラーとラグランジェの方法 / p52 (0056.jp2)
  25. 第2項 オイラー法 / p54 (0058.jp2)
  26. 第3項 ラグランジェ法 / p54 (0058.jp2)
  27. 第4項 ALE法 / p54 (0058.jp2)
  28. 第3節 NS方程式 / p55 (0059.jp2)
  29. 第1項 物体が移動する場合の支配方程式 / p55 (0059.jp2)
  30. 第2項 境界適合座標系 / p55 (0059.jp2)
  31. 第3項 NS方程式に対する離散化 / p66 (0070.jp2)
  32. 第4節 圧力補正方程式 / p74 (0078.jp2)
  33. 第1項 圧力のポアソン方程式 / p74 (0078.jp2)
  34. 第2項 境界適合座標系 / p75 (0079.jp2)
  35. 第3項 ポアソン方程式に対する離散化 / p76 (0080.jp2)
  36. 第5節 計算格子 / p78 (0082.jp2)
  37. 第1項 格子の型 / p78 (0082.jp2)
  38. 第2項 従来の格子生成法 / p79 (0083.jp2)
  39. 第3項 従来の格子生成法の問題点 / p80 (0084.jp2)
  40. 第4項 EMG法 / p80 (0084.jp2)
  41. 第6節 連立1次方程式の解法 / p85 (0089.jp2)
  42. 第1項 NS方程式のための解法 / p85 (0089.jp2)
  43. 第2項 格子生成のための解法 / p86 (0090.jp2)
  44. 第7節 境界条件と全体の流れ / p88 (0092.jp2)
  45. 第1項 境界条件 / p88 (0092.jp2)
  46. 第2項 フローチャート / p94 (0098.jp2)
  47. 第8節 結言 / p94 (0098.jp2)
  48. 第4章 平板まわりの流れ / p95 (0099.jp2)
  49. 第1節 単板まわりの流れ / p95 (0099.jp2)
  50. 第1項 計測装置と計算解析対象 / p95 (0099.jp2)
  51. 第2項 結果および考察 / p100 (0104.jp2)
  52. 第2節 二列に並べた平板まわりの流れ / p117 (0121.jp2)
  53. 第1項 計測装置と計算解析対象 / p117 (0121.jp2)
  54. 第2項 結果および考察 / p123 (0127.jp2)
  55. 第3節 結言 / p146 (0150.jp2)
  56. 第5章 結論 / p147 (0151.jp2)
  57. 第1節 結論 / p147 (0151.jp2)
  58. 謝辞 / p149 (0153.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000181201
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000001640477
  • DOI(NDL)
  • 本文言語コード
    • jpn
  • NDL書誌ID
    • 000000345515
  • データ提供元
    • 機関リポジトリ
    • NDL ONLINE
    • NDLデジタルコレクション
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