セメント粒子の凝集構造に及ぼす鉱物組成ならびに練混ぜ方法の影響

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著者

    • 吉岡, 一弘 ヨシオカ, カズヒロ

書誌事項

タイトル

セメント粒子の凝集構造に及ぼす鉱物組成ならびに練混ぜ方法の影響

著者名

吉岡, 一弘

著者別名

ヨシオカ, カズヒロ

学位授与大学

広島大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

甲第2053号

学位授与年月日

1999-03-25

注記・抄録

博士論文

目次

  1. 論文の要旨 / p1 (0004.jp2)
  2. 目次 / p1 (0006.jp2)
  3. 第1章 緒論 / p1 (0008.jp2)
  4. 1.1 序論 / p1 (0008.jp2)
  5. 1.2 本研究の目的と範囲 / p2 (0009.jp2)
  6. 1.3 本研究の構成と各章の要旨 / p3 (0009.jp2)
  7. 1.4 語句の説明 / p6 (0011.jp2)
  8. 【参考文献】 / p9 (0012.jp2)
  9. 第2章 本研究に関する既往の研究 / p11 (0013.jp2)
  10. 2.1 本章の概要 / p11 (0013.jp2)
  11. 2.2 はじめに / p11 (0013.jp2)
  12. 2.3 ダブルミキシングに関する研究 / p12 (0014.jp2)
  13. 2.4 粒子分散の理論 / p20 (0018.jp2)
  14. 2.5 セメントペーストのブリーディング発生機構 / p24 (0020.jp2)
  15. 2.6 ダブルミキシング効果 / p30 (0023.jp2)
  16. 2.7 高性能減水剤によるセメント粒子の分散 / p32 (0024.jp2)
  17. 2.8 既往の研究に対する疑問点 / p33 (0024.jp2)
  18. 【参考文献】 / p35 (0025.jp2)
  19. 第3章 セメント構成鉱物がダブルミキシング効果に及ぼす影響 / p40 (0028.jp2)
  20. 3.1 本章の概要 / p40 (0028.jp2)
  21. 3.2 はじめに / p40 (0028.jp2)
  22. 3.3 C₃S、C₂Sペーストのダブルミキシング効果 / p42 (0029.jp2)
  23. 3.4 ダブルミキシング効果と粒子ゼータ電位 / p50 (0033.jp2)
  24. 3.5 ダブルミキシング効果と粒子凝集状態 / p56 (0036.jp2)
  25. 3.6 ダブルミキシング凝集モデルの検証 / p62 (0039.jp2)
  26. 3.7 二成分系および三成分系ペーストのダブルミキシング効果 / p68 (0042.jp2)
  27. 3.8 本章のまとめ / p72 (0044.jp2)
  28. 【参考文献】 / p72 (0044.jp2)
  29. 第4章 高性能減水剤を含むセメントペーストの流動特性と粒子凝集状態 / p74 (0045.jp2)
  30. 4.1 本章の概要 / p74 (0045.jp2)
  31. 4.2 はじめに / p74 (0045.jp2)
  32. 4.3 高性能減水剤を含むSMペーストの流動特性と粒子分散状態 / p76 (0046.jp2)
  33. 4.4 高性能減水剤を含むペーストのDM効果に及ぼす混和材の影響 / p82 (0049.jp2)
  34. 4.5 本章のまとめ / p84 (0050.jp2)
  35. 【参考文献】 / p85 (0050.jp2)
  36. 第5章 高性能減水剤のセメント構成鉱物への吸着特性 / p87 (0051.jp2)
  37. 5.1 本章の概要 / p87 (0051.jp2)
  38. 5.2 はじめに / p87 (0051.jp2)
  39. 5.3 構成鉱物への高性能減水剤の吸着特性 / p88 (0052.jp2)
  40. 5.4 セメント構成鉱物のゼータ電位 / p93 (0054.jp2)
  41. 5.5 本章のまとめ / p96 (0056.jp2)
  42. 【参考文献】 / p97 (0056.jp2)
  43. 第6章 セメント粒子分散に及ぼす高性能減水剤の立体障害効果の役割 / p99 (0057.jp2)
  44. 6.1 本章の概要 / p99 (0057.jp2)
  45. 6.2 はじめに / p99 (0057.jp2)
  46. 6.3 ポテンシャルエネルギー曲線と粒子分散性 / p101 (0058.jp2)
  47. 6.4 静電反発効果によるセメント粒子の分散 / p102 (0059.jp2)
  48. 6.5 セメント粒子のゼータ電位測定 / p105 (0060.jp2)
  49. 6.6 立体障害効果によるセメント粒子の分散 / p106 (0061.jp2)
  50. 6.7 考察 / p111 (0063.jp2)
  51. 6.8 本章のまとめ / p115 (0065.jp2)
  52. 【参考文献】 / p115 (0065.jp2)
  53. 第7章 総括 / p117 (0066.jp2)
  54. 謝辞 / p120 (0068.jp2)
  55. 本論文に関する発表論文 / p121 (0068.jp2)
  56. 本論文に関する口頭発表 / p122 (0069.jp2)
6アクセス

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000185264
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000185546
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000349578
  • データ提供元
    • NDL ONLINE
    • NDLデジタルコレクション
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