衛星の放射線による誤動作と極値モデルに関する研究 エイセイ ノ ホウシャセン ニ ヨル ゴドウサ ト キョクチ モデル ニカンスル ケンキュウ

この論文をさがす

著者

    • 五家, 建夫 ゴカ, タテオ

書誌事項

タイトル

衛星の放射線による誤動作と極値モデルに関する研究

タイトル別名

エイセイ ノ ホウシャセン ニ ヨル ゴドウサ ト キョクチ モデル ニカンスル ケンキュウ

著者名

五家, 建夫

著者別名

ゴカ, タテオ

学位授与大学

筑波大学

取得学位

博士 (システムズ・マネジメント)

学位授与番号

甲第2007号

学位授与年月日

1999-03-25

注記・抄録

博士論文

筑波大学博士(システムズ・マネジメント)学位論文・平成11年3月25日授与 (甲第2007号)

目次

  1. 目次 / p1 (0003.jp2)
  2. 第1章 序論 / p1 (0007.jp2)
  3. 1.1 研究の背景 / p1 (0007.jp2)
  4. 1.2 研究の位置付け / p3 (0009.jp2)
  5. 1.3 研究の意義 / p9 (0015.jp2)
  6. 1.4 論文の構成と概要 / p11 (0017.jp2)
  7. 第2章 宇宙放射線環境と工学用放射線帯モデル / p13 (0019.jp2)
  8. 2.1 宇宙開発における放射線問題の歴史的経緯 / p13 (0019.jp2)
  9. 2.2 宇宙放射線環境 / p16 (0022.jp2)
  10. 2.3 宇宙放射線の工学用モデル / p30 (0036.jp2)
  11. 第3章 シングルイベントと宇宙放射線が及ぼす影響 / p34 (0040.jp2)
  12. 3.1 シングルイベント / p34 (0040.jp2)
  13. 3.2 放射線問題の今日的課題 / p41 (0047.jp2)
  14. 第4章 宇宙用半導体デバイスのシングルイベント試験と耐放射線対策 / p44 (0050.jp2)
  15. 4.1 半導体デバイスのシングルイベント試験・評価技術 / p44 (0050.jp2)
  16. 4.2 半導体デバイスの耐放射線対策 / p50 (0056.jp2)
  17. 第5章 放射線帯粒子の分布モデル / p54 (0060.jp2)
  18. 5.1 放射線帯モデル作成の目的と概要 / p54 (0060.jp2)
  19. 5.2 既存の放射線帯モデル / p56 (0062.jp2)
  20. 5.3 日本の人工衛星の放射線観測 / p59 (0065.jp2)
  21. 5.4 衛星の地磁気座標の検討 / p66 (0072.jp2)
  22. 5.5 放射線帯粒子フラックスの観測データの比較 / p67 (0073.jp2)
  23. 5.6 検出器の検出感度 / p107 (0113.jp2)
  24. 5.7 放射線帯モデルの構築 / p109 (0115.jp2)
  25. 5.8 放射線帯モデルのまとめ / p123 (0129.jp2)
  26. 第6章 人工衛星の誤動作:シングルイベント / p124 (0130.jp2)
  27. 6.1 海洋観測衛星1号(MOS-1)のシングルイベント / p125 (0131.jp2)
  28. 6.2 技術試験衛星V型(ETS-V)のシングルイベント計測結果 / p153 (0159.jp2)
  29. 6.3 技術試験衛星VI型(ETS-VI)のシングルイベント計測結果 / p177 (0183.jp2)
  30. 6.4 地球観測プラットフォーム技術衛星(ADEOS)のシングルイベント計測結果 / p184 (0190.jp2)
  31. 第7章 シングルイベントへの極値モデルの適用 / p192 (0198.jp2)
  32. 7.1 シングルイベントの極値 / p192 (0198.jp2)
  33. 7.2 極値理論の概要 / p194 (0200.jp2)
  34. 7.3 シングルイベント最大発生率の(予備)極値解析 / p199 (0205.jp2)
  35. 7.4 シングルイベント最大発生率の極値解析 / p204 (0210.jp2)
  36. 第8章 総括的結論と今後の展望 / p225 (0231.jp2)
  37. 参考文献 / p236 (0242.jp2)
  38. 謝辞 / p260 (0266.jp2)
  39. 付録 / p262 (0268.jp2)
  40. 付録A 極値理論の判定、推定法 / p262 (0268.jp2)
  41. 付録B 極値理論の研究動向 / p265 (0271.jp2)
  42. 付録C 諸システムのリスクの極値分布へのマッピング / p271 (0277.jp2)
1アクセス

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000185513
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000185795
  • DOI(NDL)
  • 本文言語コード
    • jpn
  • NDL書誌ID
    • 000000349827
  • データ提供元
    • 機関リポジトリ
    • NDL ONLINE
    • NDLデジタルコレクション
ページトップへ