共鳴トンネル論理素子の動作解析と共鳴トンネル構造の評価に関する研究

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著者

    • 大野, 雄高 オオノ, ユタカ

書誌事項

タイトル

共鳴トンネル論理素子の動作解析と共鳴トンネル構造の評価に関する研究

著者名

大野, 雄高

著者別名

オオノ, ユタカ

学位授与大学

名古屋大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

甲第4718号

学位授与年月日

2000-03-27

注記・抄録

博士論文

名古屋大学博士学位論文 学位の種類:博士(工学) (課程) 学位授与年月日:平成12年3月27日

目次

  1. 目次 / p1 (0003.jp2)
  2. 第1章 序論 / p1 (0004.jp2)
  3. 1-1 共鳴トンネル論理素子の位置付け / p1 (0004.jp2)
  4. 1-2 共鳴トンネル素子とその応用 / p3 (0005.jp2)
  5. 1-3 共鳴トンネル論理素子の現状と課題 / p14 (0011.jp2)
  6. 1-4 本論文の目的と構成 / p15 (0011.jp2)
  7. 参考文献 / p18 (0013.jp2)
  8. 第2章 単安定―双安定転移共鳴トンネル論理素子の動作速度解析 / p24 (0016.jp2)
  9. 2-1 はじめに / p24 (0016.jp2)
  10. 2-2 単安定―双安定転移論理素子MOBILE / p25 (0016.jp2)
  11. 2-3 MOBILEの動作速度評価モデル / p26 (0017.jp2)
  12. 2-4 MOBILEの動作速度 / p30 (0019.jp2)
  13. 2-5 まとめ / p47 (0027.jp2)
  14. 参考文献 / p49 (0028.jp2)
  15. 第3章 単安定―双安定転移共鳴トンネル光・電子論理素子の提案 / p50 (0029.jp2)
  16. 3-1 はじめに / p50 (0029.jp2)
  17. 3-2 0E MOBILEの素子構造と動作原理 / p51 (0029.jp2)
  18. 3-3 RTTの光応答特性 / p53 (0030.jp2)
  19. 3-4 0E MOBILE論理実験装置 / p57 (0032.jp2)
  20. 3-5 光入力に対する反転動作 / p58 (0033.jp2)
  21. 3-6 光2人力に対する機能可変動作 / p60 (0034.jp2)
  22. 3-7 まとめ / p63 (0035.jp2)
  23. 参考文献 / p65 (0036.jp2)
  24. 第4章 共鳴トンネルトランジスタのフォトルミネッセンス解析 / p66 (0037.jp2)
  25. 4-1 はじめに / p66 (0037.jp2)
  26. 4-2 RTTの素子構造 / p67 (0037.jp2)
  27. 4-3 顕微PL測定法 / p70 (0039.jp2)
  28. 4-4 PL機構と最適励起条件 / p71 (0039.jp2)
  29. 4-5 RTTのPLスペクトルのバイアス電圧依存性 / p75 (0041.jp2)
  30. 4-6 非対称障壁構造をもつRTDにおける電荷蓄積と蓄積時間 / p85 (0046.jp2)
  31. 4-7 まとめ / p89 (0048.jp2)
  32. 参考文献 / p90 (0049.jp2)
  33. 第5章 InAs量子ドットのフォトルミネッセンス解析 / p92 (0050.jp2)
  34. 5-1 はじめに / p92 (0050.jp2)
  35. 5-2 試料構造とPL測定条件 / p93 (0050.jp2)
  36. 5-3 単一量子ドットの観察 / p96 (0052.jp2)
  37. 5-4 励起強度の検討 / p98 (0053.jp2)
  38. 5-5 PL線幅の温度依存性と励起子位相緩和機構 / p100 (0054.jp2)
  39. 5-6 まとめ / p104 (0056.jp2)
  40. 参考文献 / p105 (0056.jp2)
  41. 第6章 InAs量子ドットを介した共鳴トンネリングのフォトルミネッセンス解析 / p107 (0057.jp2)
  42. 6-1 はじめに / p107 (0057.jp2)
  43. 6-2 QD-RTDの素子構造とI-V特性 / p108 (0058.jp2)
  44. 6-3 QD-RTDのPL解析 / p111 (0059.jp2)
  45. 6-4 まとめ / p120 (0064.jp2)
  46. 参考文献 / p122 (0065.jp2)
  47. 第7章 総括 / p124 (0066.jp2)
  48. 謝辞 / p128 (0068.jp2)
  49. 本論文に関する発表 / p129 (0068.jp2)
4アクセス

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000186338
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000186621
  • DOI(NDL)
  • 本文言語コード
    • jpn
  • NDL書誌ID
    • 000000350652
  • データ提供元
    • 機関リポジトリ
    • NDL ONLINE
    • NDLデジタルコレクション
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