ジョセフソン接合による超高速論理回路に関する研究

この論文をさがす

著者

    • 古田, 太 フルタ, フトシ

書誌事項

タイトル

ジョセフソン接合による超高速論理回路に関する研究

著者名

古田, 太

著者別名

フルタ, フトシ

学位授与大学

名古屋大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

甲第4723号

学位授与年月日

2000-03-27

注記・抄録

博士論文

目次

  1. 目次 / p1 (0003.jp2)
  2. 第1章 序論 / p1 (0005.jp2)
  3. 1.1.本研究の背景 / p1 (0005.jp2)
  4. 1.2.ジョセフソン論理回路の構成要素 / p4 (0007.jp2)
  5. 1.3.ジョセフソン接合の論理回路応用 / p12 (0011.jp2)
  6. 1.4.ジョセフソン論理回路開発の歴史的経緯 / p19 (0014.jp2)
  7. 1.5.本研究の目的 / p22 (0016.jp2)
  8. 1.6.本論文の構成 / p23 (0016.jp2)
  9. 第2章 4接合結合型SQUID(4JC-SQUID)の特性と評価 / p25 (0017.jp2)
  10. 2.1.4接合結合型SUQID / p25 (0017.jp2)
  11. 2.2.4JC-SQUIDの諸特性の評価 / p29 (0019.jp2)
  12. 2.3.4JC-SQUIDの論理回路応用 / p35 (0022.jp2)
  13. 2.4.4JC-SQUID回路の動作実証 / p41 (0025.jp2)
  14. 2.5.まとめ / p50 (0030.jp2)
  15. 第3章 単一磁束量子回路の特性と実証、4JC-SUQIDとの比較 / p53 (0031.jp2)
  16. 3.1.単一磁束量子論理(SFQ論理)の原理 / p53 (0031.jp2)
  17. 3.2.SFQ回路の構成 / p60 (0035.jp2)
  18. 3.3.SFQ回路の特性 / p66 (0038.jp2)
  19. 3.4.4JC-SQUIDとの比較 / p72 (0041.jp2)
  20. 3.5.まとめ / p75 (0042.jp2)
  21. 第4章 単一磁束量子回路による高速動作特性の評価 / p77 (0043.jp2)
  22. 4.1.オンチップテストシステム / p77 (0043.jp2)
  23. 4.2.SFQ回路の設計 / p83 (0046.jp2)
  24. 4.3.SFQ論理の基本ゲート動作実証 / p93 (0051.jp2)
  25. 4.4.オンチップテストンステムの実証 / p102 (0056.jp2)
  26. 4.5.まとめ / p115 (0062.jp2)
  27. 第5章 初期化の概念を導入した新SFQ回路の提案と実証 / p117 (0063.jp2)
  28. 5.1.SFQ論理と論理回路の初期化の重要性 / p117 (0063.jp2)
  29. 5.2.SFQ-RL論理回路 / p121 (0065.jp2)
  30. 5.3.SFQ-RL論理の評価と改良 / p126 (0068.jp2)
  31. 5.4.SFQ-RL論理の実証 / p129 (0069.jp2)
  32. 5.5.SFQ-RL論理によるM系列発生器応用 / p135 (0072.jp2)
  33. 5.6.実験全体の考察 / p143 (0076.jp2)
  34. 5.7.総括 / p145 (0077.jp2)
  35. 第6章 総括 / p147 (0078.jp2)
  36. 6.1.本論文のまとめ / p147 (0078.jp2)
  37. 6.2.今後の課題 / p149 (0079.jp2)
  38. 謝辞 / p153 (0081.jp2)
  39. 付録 / p155 (0082.jp2)
  40. A.4JC-SQUIDの静特性の導出 / p155 (0082.jp2)
  41. B.4JC-SQUIDの静特性解析プログラム / p157 (0083.jp2)
  42. C.JSIMシミュレーションで用いた4JC-SQUID評価のための回路ファイル / p160 (0085.jp2)
  43. D.本研究で行った回路作製プロセス / p162 (0086.jp2)
  44. E.インダクタンス値の導出法 / p166 (0088.jp2)
  45. F.モンテカルロシミュレーションのCソースプログラム / p168 (0089.jp2)
  46. 参考文献 / p181 (0095.jp2)
  47. 研究業績 / p185 (0097.jp2)
1アクセス

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000186343
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000186626
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000350657
  • データ提供元
    • NDL ONLINE
    • NDLデジタルコレクション
ページトップへ