Transmission electron microscopy study on mechanisms of deformation and fracture in ceramics セラミックスにおける変形および破壊機構に関する透過電子顕微鏡的研究

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著者

    • 文, 元振 ムン, ワンジン

書誌事項

タイトル

Transmission electron microscopy study on mechanisms of deformation and fracture in ceramics

タイトル別名

セラミックスにおける変形および破壊機構に関する透過電子顕微鏡的研究

著者名

文, 元振

著者別名

ムン, ワンジン

学位授与大学

名古屋大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

甲第4725号

学位授与年月日

2000-03-27

注記・抄録

博士論文

目次

  1. CONTENTS / (0003.jp2)
  2. CHAPTER1 INTRODUCTION / p1 (0006.jp2)
  3. 1.1 Background of the present study / p1 (0006.jp2)
  4. 1.2 MGC materials and DS-Al₂O₃/YAG eutectic ceramic / p3 (0008.jp2)
  5. 1.3 The aim of the present study / p5 (0010.jp2)
  6. 1.4 Crystallography of each phase in DS-A1₂O₃/YAG eutectic ceramic / p9 (0014.jp2)
  7. References / p15 (0020.jp2)
  8. CHAPTER2 DISLOCATIONS IN YAG PHASE OF A DS-A1₂O₃/YAG EUTECTIC CERAMIC DEFORMED AT ROOM AND HIGH TEMPERATURES / p17 (0022.jp2)
  9. 2.1 Introduction / p17 (0022.jp2)
  10. 2.2 Experimental procedures / p17 (0022.jp2)
  11. 2.3 Results and discussion / p21 (0026.jp2)
  12. 2.4 Conclusions / p43 (0048.jp2)
  13. References / p44 (0049.jp2)
  14. CHAPTER3 DISLOCATIONS IN α-Al₂O₃PHASE OF A DS-Al₂O₃/YAG EUTECTIC CERAMIC DEFORMED AT ROOM AND HIGH TEMPERATURES / p45 (0050.jp2)
  15. 3.1 Introduction / p45 (0050.jp2)
  16. 3.2 Experimental procedures / p45 (0050.jp2)
  17. 3.3 Results and discussion / p45 (0050.jp2)
  18. 3.4 Conclusions / p59 (0064.jp2)
  19. References / p62 (0067.jp2)
  20. CHAPTER4 TEM OBSERVATIONS AND MODELING OF HEALING OF A CRACK TIP IN YAG SINGLE CRYSTAL / p63 (0068.jp2)
  21. 4.1 Introduction / p63 (0068.jp2)
  22. 4.2 Experimental procedures / p63 (0068.jp2)
  23. 4.3 Results / p64 (0069.jp2)
  24. 4.4 Discussion and summary / p76 (0081.jp2)
  25. References / p81 (0086.jp2)
  26. CHAPTER5 TOUGHENING OF YAG SINGLE CRYATAL BY FORMATION OF DISLOCATION CELL STRUCTURE / p82 (0087.jp2)
  27. 5.1 Introduction / p82 (0087.jp2)
  28. 5.2 Experimental procedures / p84 (0089.jp2)
  29. 5.3 Results / p85 (0090.jp2)
  30. 5.4 Discussion / p92 (0097.jp2)
  31. 5-5 Conclusions / p92 (0097.jp2)
  32. References / p94 (0099.jp2)
  33. CHAPTER6 SUMMARY / p95 (0100.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000186345
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000186628
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000350659
  • データ提供元
    • NDL ONLINE
    • NDLデジタルコレクション
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