画像処理適用による溶接部のX線透過試験フィルム検査の自動化に関する研究

この論文をさがす

著者

    • 青木, 公也 アオキ, キミヤ

書誌事項

タイトル

画像処理適用による溶接部のX線透過試験フィルム検査の自動化に関する研究

著者名

青木, 公也

著者別名

アオキ, キミヤ

学位授与大学

慶応義塾大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

甲第1800号

学位授与年月日

2000-03-23

注記・抄録

博士論文

目次

  1. 論文目録 / (0001.jp2)
  2. 論文要旨 / (0005.jp2)
  3. 目次 / p1 (0007.jp2)
  4. 第1章 序論 / p1 (0011.jp2)
  5. 1.1 研究の目的 / p1 (0011.jp2)
  6. 1.2 背景技術 / p2 (0012.jp2)
  7. 1.3 本研究の新規性 / p7 (0017.jp2)
  8. 1.4 自動検査システムにおける画像処理と本論文の構成 / p9 (0019.jp2)
  9. 第1章の図表 / p11 (0021.jp2)
  10. 第2章 溶接部X線検査フィルムとフィルムのデジタル化 / p13 (0023.jp2)
  11. 2.1 溶接部X線検査フイルム / p13 (0023.jp2)
  12. 2.2 溶接欠陥の種類 / p14 (0024.jp2)
  13. 2.3 フィルムのデジタイジング / p18 (0028.jp2)
  14. 2.4 画像の取得 / p20 (0030.jp2)
  15. 第2章の図表 / p23 (0033.jp2)
  16. 第3章 フイルム画像の特徴と一般的な画像処理適用の問題点 / p34 (0044.jp2)
  17. 3.1 目視検査による画像解析 / p34 (0044.jp2)
  18. 3.2 一般的な画像処理適用の問題点 / p35 (0045.jp2)
  19. 第3章の図表 / p43 (0053.jp2)
  20. 第4章 2次元背景差分法による欠陥像の検出 / p56 (0066.jp2)
  21. 4.1 緒言 / p56 (0066.jp2)
  22. 4.2 処理画像の設定 / p56 (0066.jp2)
  23. 4.3 溶接ビード部画像の切出し / p57 (0067.jp2)
  24. 4.4 背景画像の生成―溶接方向に直交する方向の輝度分布に着目した手法― / p57 (0067.jp2)
  25. 4.5 背景画像の生成―溶接方向の輝度分布に着目した手法― / p61 (0071.jp2)
  26. 4.6 2次元背景差分法 / p62 (0072.jp2)
  27. 4.7 結言 / p64 (0074.jp2)
  28. 第4章の図表 / p66 (0076.jp2)
  29. 第5章 領域拡張法による欠陥像の抽出 / p81 (0091.jp2)
  30. 5.1 緒言 / p81 (0091.jp2)
  31. 5.2 領域拡張法の概念 / p81 (0091.jp2)
  32. 5.3 ヒストグラムしきい値法および領域拡張法 / p82 (0092.jp2)
  33. 5.4 知覚的体制化の要因に基づく領域拡張法 / p86 (0096.jp2)
  34. 5.5 結言 / p91 (0101.jp2)
  35. 第5章の図表 / p93 (0103.jp2)
  36. 第6章 遺伝アルゴリズムを適用した画像処理による欠陥像形状の検出 / p114 (0124.jp2)
  37. 6.1 緒言 / p114 (0124.jp2)
  38. 6.2 遺伝アルゴリズムの概要 / p115 (0125.jp2)
  39. 6.3 処理画像の設定 / p116 (0126.jp2)
  40. 6.4 目視による欠陥像境界線決定の条件 / p116 (0126.jp2)
  41. 6.5 従来手法と比較した場合の本手法の特徴と意義 / p117 (0127.jp2)
  42. 6.6 GAによる欠陥像の抽出 / p118 (0128.jp2)
  43. 6.7 GP変化による探索のメリット / p126 (0136.jp2)
  44. 6.8 アルゴリズムの評価 / p126 (0136.jp2)
  45. 6.9 結言 / p126 (0136.jp2)
  46. 第6章の図表 / p128 (0138.jp2)
  47. 第7章 ニューラルネットワークによる溶接欠陥像の種類判別 / p144 (0154.jp2)
  48. 7.1 緒言 / p144 (0154.jp2)
  49. 7.2 ニューラルネットワークの概要 / p144 (0154.jp2)
  50. 7.3 処理画像の設定 / p145 (0155.jp2)
  51. 7.4 各種欠陥の形態的特徴 / p145 (0155.jp2)
  52. 7.5 判定のための特徴パラメータ / p146 (0156.jp2)
  53. 7.6 ニューラルネットワークによる欠陥像の識別と判定 / p149 (0159.jp2)
  54. 7.7 結言 / p150 (0160.jp2)
  55. 第7章の図表 / p151 (0161.jp2)
  56. 第8章 外観検査とX線検査との融合 / p162 (0172.jp2)
  57. 8.1 緒言 / p162 (0172.jp2)
  58. 8.2 実験装置 / p163 (0173.jp2)
  59. 8.3 X線画像と距離画像の差分による内部欠陥像の抽出 / p164 (0174.jp2)
  60. 8.4 システムの評価 / p167 (0177.jp2)
  61. 8.5 結言 / p168 (0178.jp2)
  62. 8.6 今後の課題 / p169 (0179.jp2)
  63. 第8章の図表 / p170 (0180.jp2)
  64. 第9章 結論 / p191 (0201.jp2)
  65. 謝辞 / p196 (0206.jp2)
  66. 参考文献 / p197 (0207.jp2)
  67. 著者の発表論文 / p202 (0212.jp2)
13アクセス

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000186549
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000186832
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000350863
  • データ提供元
    • NDL ONLINE
    • NDLデジタルコレクション
ページトップへ