周波数域位相変調とホログラフィを用いた低コヒーレンス光の計測及び伝送応用に関する研究

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著者

    • 寺村, 友一 テラムラ, ユウイチ

書誌事項

タイトル

周波数域位相変調とホログラフィを用いた低コヒーレンス光の計測及び伝送応用に関する研究

著者名

寺村, 友一

著者別名

テラムラ, ユウイチ

学位授与大学

慶応義塾大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

甲第1809号

学位授与年月日

2000-03-23

注記・抄録

博士論文

目次

  1. 論文目録 / (0001.jp2)
  2. 目次 / p3 (0005.jp2)
  3. 第1章 序論 / p1 (0008.jp2)
  4. 1.はじめに / p2 (0009.jp2)
  5. 2.低コヒーレンス光 / p4 (0010.jp2)
  6. 3.広帯域光を用いた干渉計測 / p8 (0012.jp2)
  7. 4.フーリエシンセサイジング / p15 (0015.jp2)
  8. 5.大容量画像情報伝送 / p18 (0017.jp2)
  9. 6.本研究の目的と論文構成 / p24 (0020.jp2)
  10. 第2章 フーリエ変換とコヒーレンス関数 / p31 (0023.jp2)
  11. 1.はじめに / p32 (0024.jp2)
  12. 2.光とフーリエ変換 / p33 (0024.jp2)
  13. 3.解析信号 / p42 (0029.jp2)
  14. 4.コヒーレンス関数 / p45 (0030.jp2)
  15. 5.本章のまとめ / p48 (0032.jp2)
  16. 第3章 コヒーレンス関数整形 / p51 (0033.jp2)
  17. 1.はじめに / p52 (0034.jp2)
  18. 2.コヒーレンス関数整形の理論 / p53 (0034.jp2)
  19. 2.コヒーレンス関数整形実験システム / p58 (0037.jp2)
  20. 3.コヒーレンス関数整形実験 / p65 (0040.jp2)
  21. 4.コヒーレンス関数整形に関する理論的考察 / p68 (0042.jp2)
  22. 5.まとめ / p75 (0045.jp2)
  23. 第4章 Simulated Annealing 法を用いたコヒーレンス関数整形 / p77 (0046.jp2)
  24. 1.はじめに / p78 (0047.jp2)
  25. 2.Simulated Annealing 法によるマスク設計 / p80 (0048.jp2)
  26. 3.様々な形状のコヒーレンス関数整形 / p83 (0049.jp2)
  27. 4.まとめ / p89 (0052.jp2)
  28. 第5章 コヒーレンス関数整形とスペクトルホログラフィを用いた位相情報伝送 / p91 (0053.jp2)
  29. 1.はじめに / p92 (0054.jp2)
  30. 2.位相情報伝送システム / p93 (0054.jp2)
  31. 3.位相情報伝送実験 / p97 (0056.jp2)
  32. 4.様々な位相情報の伝送と時空間結合効果 / p111 (0064.jp2)
  33. 5.伝送容量 / p117 (0067.jp2)
  34. 6.時間遅延分割多重通信 / p119 (0068.jp2)
  35. 7.まとめ / p123 (0070.jp2)
  36. 第6章 コヒーレンス関数整形を用いた計測応用 / p125 (0071.jp2)
  37. 1.はじめに / p126 (0072.jp2)
  38. 2.機械的走査なし低コヒーレンス干渉計測 / p127 (0072.jp2)
  39. 3.深度選択多点同時計測 / p131 (0074.jp2)
  40. 3.1.コヒーレンス関数整形を用いた深度選択多点同時計測への応用 / p131 (0074.jp2)
  41. 3.2.マスク設計及び実験 / p131 (0074.jp2)
  42. 3.3.コヒーレンス関数整形を用いた多層光メモリの演算読み出しの提案 / p133 (0075.jp2)
  43. 4.まとめ / p135 (0076.jp2)
  44. 第7章 二次元断層一括測定トモグラフィ / p137 (0077.jp2)
  45. 1.はじめに / p138 (0078.jp2)
  46. 2.実験装置と画像解析 / p139 (0078.jp2)
  47. 3.断層像の測定範囲と分解能 / p144 (0081.jp2)
  48. 4.ガラス多層サンプルを用いた実験 / p149 (0083.jp2)
  49. 5.散乱体計測 / p153 (0085.jp2)
  50. 6.結論 / p158 (0088.jp2)
  51. 第8章 結論 / p161 (0089.jp2)
  52. 1.はじめに / p162 (0090.jp2)
  53. 2.本論文で得られた知見 / p163 (0090.jp2)
  54. 3.総括 / p167 (0092.jp2)
3アクセス

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000186558
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000186841
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000350872
  • データ提供元
    • NDL ONLINE
    • NDLデジタルコレクション
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