ZnSe系Ⅱ-Ⅵ族化合物半導体レーザにおける結晶欠陥に関する研究

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著者

    • 冨谷, 茂隆 トミヤ, シゲタカ

書誌事項

タイトル

ZnSe系Ⅱ-Ⅵ族化合物半導体レーザにおける結晶欠陥に関する研究

著者名

冨谷, 茂隆

著者別名

トミヤ, シゲタカ

学位授与大学

慶応義塾大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

乙第3331号

学位授与年月日

2000-02-07

注記・抄録

博士論文

目次

  1. 論文目録 / (0001.jp2)
  2. 目次 / p3 (0006.jp2)
  3. 論文要旨 / p1 (0005.jp2)
  4. Abstract / p2 (0006.jp2)
  5. 第1章 序論 / p1 (0007.jp2)
  6. 1.1 はじめに / p1 (0007.jp2)
  7. 1.2 半導体レーザについて / p3 (0008.jp2)
  8. 1.3 ZnSe系II-VI族化合物半導体について / p5 (0009.jp2)
  9. 1.4 ZnSe系II-VI族化合物半導体レーザのヘテロ界面 / p9 (0011.jp2)
  10. 1.5 本研究の目的 / p17 (0015.jp2)
  11. 参考文献 / p18 (0016.jp2)
  12. 第2章 ZnSe/GaAs界面における結晶欠陥 / p21 (0017.jp2)
  13. 2.1 はじめに / p21 (0017.jp2)
  14. 2.2 ZnSe/GaAs界面でのミスフィツト転位 / p22 (0018.jp2)
  15. 2.3 ZnSSe/GaAs界面での面欠陥 / p35 (0024.jp2)
  16. 2.4 Zn(S)Se/GaAs界面での積層欠陥 / p48 (0031.jp2)
  17. 2.5 まとめ / p58 (0036.jp2)
  18. 参考文献 / p59 (0036.jp2)
  19. 第3章 ZnSe系II-VI族化合物半導体の表面モフォロジーと混晶安定性 / p61 (0037.jp2)
  20. 3.1 はじめに / p61 (0037.jp2)
  21. 3.2 ZnSe系II-VI族化合物半導体の表面モフォロジー / p62 (0038.jp2)
  22. 3.3 ZnSe系II-VI族化合物半導体の混晶安定性 / p72 (0043.jp2)
  23. 3.4 まとめ / p86 (0050.jp2)
  24. 参考文献 / p87 (0050.jp2)
  25. 第4章 II-VI族化合物半導体レーザにおける再結合欠陥促進運動 / p89 (0051.jp2)
  26. 4.1 はじめに / p89 (0051.jp2)
  27. 4.2 ZnCdSe/ZnSSe/ZnMgSSe SCH構造中のミスフィツト転位 / p90 (0052.jp2)
  28. 4.3 劣化領域の欠陥---起源---ZnSc系II-VI族半導体発光デバイスにおける非発光領域の欠陥構造 / p94 (0054.jp2)
  29. 4.4 劣化領域の欠陥---欠陥構造---光劣化ZnCdSe量子井戸構造における欠陥構造 / p102 (0058.jp2)
  30. 4.5 劣化領域の欠陥---増殖過程---電子線照射によるZnCdSe量子井戸構造の欠陥増殖 / p108 (0061.jp2)
  31. 4.6 劣化領域の欠陥に対する活性層応力・界面ラフネスの影響 / p113 (0063.jp2)
  32. 4.7 400時間級II-VI族化合物半導体レーザの劣化機構 / p119 (0066.jp2)
  33. 4.8 まとめ / p123 (0068.jp2)
  34. 参考文献 / p125 (0069.jp2)
  35. 第5章 ZnSe/ZnTe多重量子井戸構造中の欠陥構造 / p127 (0070.jp2)
  36. 5.1 はじめに / p127 (0070.jp2)
  37. 5.2 ZnSe/ZnTe多重量子井戸構造の欠陥の構造解析 / p129 (0071.jp2)
  38. 5.3 最適化ZnSe/ZnTe多重量子井戸構造 / p144 (0079.jp2)
  39. 5.4 まとめ / p149 (0081.jp2)
  40. 参考文献 / p150 (0082.jp2)
  41. 第6章 総括 / p152 (0083.jp2)
  42. 謝辞 / p155 (0084.jp2)
  43. 研究業績 / p156 (0085.jp2)
6アクセス

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000186611
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000186894
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000350925
  • データ提供元
    • NDL ONLINE
    • NDLデジタルコレクション
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