尤度理論に基づく検定とその品質管理への応用に関する研究

Search this Article

Author

    • 渡壁, 京子 ワタカベ, キョウコ

Bibliographic Information

Title

尤度理論に基づく検定とその品質管理への応用に関する研究

Author

渡壁, 京子

Author(Another name)

ワタカベ, キョウコ

University

大阪府立大学

Types of degree

博士 (工学)

Grant ID

甲第628号

Degree year

2000-03-31

Note and Description

博士論文

Table of Contents

  1. 目次 / p1 (0003.jp2)
  2. 第1章 緒論 / p1 (0004.jp2)
  3. 第2章 正規1標本対数尤度比統計量の近似分布 / p7 (0007.jp2)
  4. 2.1 緒言 / p7 (0007.jp2)
  5. 2.2 対数尤度比統計量のキュムラント母関数 / p8 (0008.jp2)
  6. 2.3 対数尤度比統計量の近似分布 / p12 (0010.jp2)
  7. 2.4 近似精度の比較 / p22 (0015.jp2)
  8. 2.5 (χ,s)同時管理図への適用 / p27 (0017.jp2)
  9. 2.6 結言 / p29 (0018.jp2)
  10. 第3章 Double Sampling (χ,s)同時管理図 / p31 (0019.jp2)
  11. 3.1 緒言 / p31 (0019.jp2)
  12. 3.2 Double Sampling (χ,s)同時管理図の提案 / p32 (0020.jp2)
  13. 3.3 管理特性の比較 / p36 (0022.jp2)
  14. 3.4 結言 / p40 (0024.jp2)
  15. 第4章 適応型(χ,s)同時管理図 / p43 (0025.jp2)
  16. 4.1 緒言 / p43 (0025.jp2)
  17. 4.2 適応型(χ,s)同時管理図の提案 / p44 (0026.jp2)
  18. 4.3 管理特性の比較 / p49 (0028.jp2)
  19. 4.4 結言 / p56 (0032.jp2)
  20. 第5章 (χ,s)同時管理図の経済的運用法 / p57 (0032.jp2)
  21. 5.1 緒言 / p57 (0032.jp2)
  22. 5.2 コスト関数の定義 / p58 (0033.jp2)
  23. 5.3 Taguchiの損失関数に基づく(χ,s)同時管理図の経済的運用法 / p61 (0034.jp2)
  24. 5.4 結言 / p66 (0037.jp2)
  25. 第6章 Taguchiの損失関数に基づく計量規準型1回抜取検査の設計 / p67 (0037.jp2)
  26. 6.1 緒言 / p67 (0037.jp2)
  27. 6.2 抜取検査の定式化 / p68 (0038.jp2)
  28. 6.3 抜取検査の設計法 / p70 (0039.jp2)
  29. 6.4 数値例 / p74 (0041.jp2)
  30. 6.5 結言 / p79 (0043.jp2)
  31. 第7章 多標本尤度比検定 / p81 (0044.jp2)
  32. 7.1 緒言 / p81 (0044.jp2)
  33. 7.2 分散等質性検定 / p82 (0045.jp2)
  34. 7.3 正規多標本検定 / p90 (0049.jp2)
  35. 7.4 結言 / p101 (0054.jp2)
  36. 第8章 結論 / p103 (0055.jp2)
  37. 参考文献 / p107 (0057.jp2)
  38. 付録 / p115 (0061.jp2)
  39. 付録A キュムラント母関数の漸近特性 / p115 (0061.jp2)
  40. 付録B 1次および2次キュムラントの漸近値 / p116 (0062.jp2)
  41. 付録C Laguerre展開に基づく確率点 / p118 (0063.jp2)
  42. 付録D ξの増減に関する自由度νの変化 / p121 (0064.jp2)
  43. 付録E [数式]の最大値 / p121 (0064.jp2)
  44. 付録F [数式]の最小値 / p123 (0065.jp2)
  45. 付録G サンプル・サイズnの導出 / p123 (0065.jp2)
  46. 謝辞 / p125 (0066.jp2)
9access

Codes

  • NII Article ID (NAID)
    500000186751
  • NII Author ID (NRID)
    • 8000000187034
  • DOI(NDL)
  • NDLBibID
    • 000000351065
  • Source
    • NDL ONLINE
    • NDL Digital Collections
Page Top