Quench development in high temperature superconducting devices 高温超伝導デバイスのクエンチ特性に関する研究

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著者

    • Ilyin Yuri A イリン ユーリ エー

書誌事項

タイトル

Quench development in high temperature superconducting devices

タイトル別名

高温超伝導デバイスのクエンチ特性に関する研究

著者名

Ilyin Yuri A

著者別名

イリン ユーリ エー

学位授与大学

九州大学

取得学位

博士 (学術)

学位授与番号

乙第7013号

学位授与年月日

2000-02-24

注記・抄録

博士論文

目次

  1. Contents / p1 (0004.jp2)
  2. Introduction.Object and scope of the research / p1 (0008.jp2)
  3. I. Methods of quench description of high-Tc superconductors(Literature review) / p6 (0013.jp2)
  4. 1. What is a"quench"and why study of it is of big importance / p7 (0014.jp2)
  5. II. Experimental study of a quench in high-Tc superconducting devices / p29 (0036.jp2)
  6. 2. Experimental study of quench in short Bi-2212/Ag tape / p30 (0037.jp2)
  7. 3. High-Tc samples on bobbines from different materials / p46 (0053.jp2)
  8. 4. High-Tc pancake coil / p69 (0076.jp2)
  9. III. Analysis of quench development in high-Tc devices / p91 (0098.jp2)
  10. 5. Results of computer simulation / p92 (0099.jp2)
  11. 6. Scaling for quench development in high-Tc devices / p100 (0107.jp2)
  12. 7. Comparison of the calculations with experiments / p111 (0118.jp2)
  13. 8. Methods of evaluation of quench parameters in high-Tc superconducting devices / p127 (0134.jp2)
  14. Conclusions / p136 (0143.jp2)
  15. Appendix A / p137 (0144.jp2)
  16. Appendix B / p140 (0147.jp2)
  17. Bibliography / p142 (0149.jp2)
  18. List of symbols / p147 (0154.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000187822
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000188105
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000352136
  • データ提供元
    • NDL ONLINE
    • NDLデジタルコレクション
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