Methods to surface investigations on ultrathin organic films 走査型プローブ顕微鏡を用いた有機超薄膜の表面に関する研究
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著者
書誌事項
- タイトル
-
Methods to surface investigations on ultrathin organic films
- タイトル別名
-
走査型プローブ顕微鏡を用いた有機超薄膜の表面に関する研究
- 著者名
-
小林, 圭
- 著者別名
-
コバヤシ, ケイ
- 学位授与大学
-
京都大学
- 取得学位
-
博士 (工学)
- 学位授与番号
-
甲第8381号
- 学位授与年月日
-
2000-03-23
注記・抄録
博士論文
目次
- 論文目録 / (0001.jp2)
- Contents / p1 (0005.jp2)
- 1 Introduction / p1 (0007.jp2)
- 1.1 Background / p1 (0007.jp2)
- 1.2 Purpose / p3 (0009.jp2)
- 1.3 Structure of Thesis / p4 (0010.jp2)
- 2 Instrumentation of Scanning Probe Methods / p6 (0012.jp2)
- 2.1 Introduction / p6 (0012.jp2)
- 2.2 Scanning Tunneling Microscopy(STM) / p6 (0012.jp2)
- 2.3 Atomic Force Microscopy(AFM) / p10 (0016.jp2)
- 2.4 Summary / p34 (0040.jp2)
- 3 Characterization of Ultrathin Fullerene Films / p36 (0042.jp2)
- 3.1 Introduction / p36 (0042.jp2)
- 3.2 Experimental Setup / p38 (0044.jp2)
- 3.3 Sample Preparation / p40 (0046.jp2)
- 3.4 Characterization of Si(111)-7x7 Reconstructed Surface / p42 (0048.jp2)
- 3.5 Structures of Ultrathin Fullerene Films / p46 (0052.jp2)
- 3.6 Surface Potential Measurements / p60 (0066.jp2)
- 3.7 Summary / p64 (0070.jp2)
- 4 Characterization of Self-Assembled Monolayers / p65 (0071.jp2)
- 4.1 Introduction / p65 (0071.jp2)
- 4.2 Experimental Setup / p67 (0073.jp2)
- 4.3 Sample Preparation / p70 (0076.jp2)
- 4.4 Characterization of Au(111)Surface / p73 (0079.jp2)
- 4.5 Structures of Alkancthiol SAMs / p76 (0082.jp2)
- 4.6 Structures of Alkanedithiol SAMs / p86 (0092.jp2)
- 4.7 I-V Curve Measurements / p94 (0100.jp2)
- 4.8 Structures of Mixture SAMs / p96 (0102.jp2)
- 4.9 Summary / p97 (0103.jp2)
- 5 Conclusions / p99 (0105.jp2)
- A Calculation of Electrostatic Force / p101 (0107.jp2)
