低温X線カメラの開発と有機一次元導体の研究

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著者

    • 藤村, 尚喜 フジムラ, ナオキ

書誌事項

タイトル

低温X線カメラの開発と有機一次元導体の研究

著者名

藤村, 尚喜

著者別名

フジムラ, ナオキ

学位授与大学

岡山大学

取得学位

博士 (理学)

学位授与番号

甲第2040号

学位授与年月日

2000-03-25

注記・抄録

博士論文

目次

  1. 目次 / (0003.jp2)
  2. 1 有機伝導体と一次元伝導体の物理 / p1 (0006.jp2)
  3. 1.1 典型的有機分子と有機伝導体 / p3 (0008.jp2)
  4. 1.2 一次元伝導体の物理 / p5 (0010.jp2)
  5. 2 低温構造測定カメラの開発:縦集光単色ラウエカメラ / p12 (0017.jp2)
  6. 2.1 単色ラウエカメラ / p12 (0017.jp2)
  7. 2.2 縦集光単色ラウエカメラの作製 / p19 (0024.jp2)
  8. 3 4軸X線回折計による構造測定 / p26 (0031.jp2)
  9. 3.1 HUBERX線低温4軸回折計 / p26 (0031.jp2)
  10. 3.2 冷却系 / p27 (0032.jp2)
  11. 3.3 X線光学系および計数系 / p28 (0033.jp2)
  12. 3.4 常温4軸による予備実験 / p29 (0034.jp2)
  13. 3.5 低温X線カウンター実験 / p29 (0034.jp2)
  14. 4 ESRによる電子スピン磁化率測定 / p34 (0039.jp2)
  15. 4.1 ESR分光計 / p34 (0039.jp2)
  16. 4.2 試料の準備および測定 / p34 (0039.jp2)
  17. 4.3(TTM-TTP)I₃のESRの結果 / p37 (0042.jp2)
  18. 5(TTM-TTP)I₃の低温X線実験 / p46 (0051.jp2)
  19. 5.1 (TTM-TTP)I₃の結晶構造と電子構造 / p46 (0051.jp2)
  20. 5.2 カメラ法による低温散漫散乱実験 / p48 (0053.jp2)
  21. 5.3 低温カウンター実験 / p52 (0057.jp2)
  22. 5.4 格子定数の温度変化 / p52 (0057.jp2)
  23. 5.5 衛星反射のカウンター測定 / p53 (0058.jp2)
  24. 5.6 平均構造解析と超格子構造解析 / p59 (0064.jp2)
  25. 5.7 q₁の衛星反射の空間分布 / p60 (0065.jp2)
  26. 5.8 変調構造の成因と物性への影響 / p61 (0066.jp2)
  27. 6 結果の議論と考察 / p81 (0086.jp2)
  28. 6.1 縦集光ラウエカメラの有効性と可能性 / p81 (0086.jp2)
  29. 6.2(TTM-TTP)I₃の物性と得られた結果の議論 / p83 (0088.jp2)
  30. 6.3 結論 / p88 (0093.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000189301
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000189584
  • DOI(NDL)
  • 本文言語コード
    • jpn
  • NDL書誌ID
    • 000000353615
  • データ提供元
    • 機関リポジトリ
    • NDL ONLINE
    • NDLデジタルコレクション
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