磁気的残留応力測定法の精度向上に関する研究

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著者

    • 殷, 春浩 イン, シュンコウ

書誌事項

タイトル

磁気的残留応力測定法の精度向上に関する研究

著者名

殷, 春浩

著者別名

イン, シュンコウ

学位授与大学

岡山大学

取得学位

博士 (学術)

学位授与番号

甲第2048号

学位授与年月日

2000-03-25

注記・抄録

博士論文

目次

  1. 目次 / p1 (0003.jp2)
  2. 第一章 序論 / p1 (0004.jp2)
  3. 第二章 各種応力測定の原理 / p7 (0007.jp2)
  4. 2.1 ひずみゲージによる応力測定法 / p7 (0007.jp2)
  5. 2.2 X線による応力測定法 / p10 (0009.jp2)
  6. 2.3 磁気的応力測定法 / p10 (0009.jp2)
  7. 2.4 応力測定方法の比較 / p11 (0009.jp2)
  8. 2.5 まとめ / p12 (0010.jp2)
  9. 第三章 磁気的応力測定法 / p13 (0010.jp2)
  10. 3.1 磁化曲線及び磁化過程 / p13 (0010.jp2)
  11. 3.2 応力の磁化特性への影響 / p15 (0011.jp2)
  12. 3.3 応力の磁気ひずみへの影響 / p21 (0014.jp2)
  13. 3.4 自己バランス型磁気プローブの原理 / p30 (0019.jp2)
  14. 3.5 測定装置の概要 / p33 (0020.jp2)
  15. 3.6 測定回路 / p33 (0020.jp2)
  16. 3.7 計算方法及びプログラム / p38 (0023.jp2)
  17. 3.8 応力の測定方法 / p42 (0025.jp2)
  18. 3.9 まとめ / p46 (0027.jp2)
  19. 第四章 較正曲線及び応力感度 / p47 (0027.jp2)
  20. 4.1 各種較正曲線の求め方 / p47 (0027.jp2)
  21. 4.2 応力感度とリフトオフとの関係 / p51 (0029.jp2)
  22. 4.3 応力感度とインピーダンスとの関係 / p57 (0032.jp2)
  23. 4.4 温度の応力感度に与える影響 / p60 (0034.jp2)
  24. 4.5 応力測定に対する残留磁化の影響 / p60 (0034.jp2)
  25. 4.6 応力測定に与える研磨の影響 / p62 (0035.jp2)
  26. 4.7 まとめ / p66 (0037.jp2)
  27. 第五章 ショットブラスト処理の磁気的応力測定に与える影響 / p67 (0037.jp2)
  28. 5.1 実験方法 / p67 (0037.jp2)
  29. 5.2 ショットブラスト処理の強さの応力測定値に与える影響 / p70 (0039.jp2)
  30. 5.3 磁気プローブで測定した値とひずみゲージによる応力測定値との比較 / p79 (0043.jp2)
  31. 5.4 1kHzプローブと20Hzプローブとの測定値の比較 / p84 (0046.jp2)
  32. 5.5 まとめ / p86 (0047.jp2)
  33. 第六章 測定誤差 / p87 (0047.jp2)
  34. 6.1 誤差解析から測定精度を向上する方法 / p87 (0047.jp2)
  35. 6.2 測定の問題点 / p90 (0049.jp2)
  36. 第七章 結論 / p91 (0049.jp2)
  37. 参考文献 / p93 (0050.jp2)
  38. 謝辞 / p99 (0053.jp2)
2アクセス

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000189309
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000189592
  • DOI(NDL)
  • 本文言語コード
    • jpn
  • NDL書誌ID
    • 000000353623
  • データ提供元
    • 機関リポジトリ
    • NDL ONLINE
    • NDLデジタルコレクション
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