2次電子スピン計測技術の開発 : RHEEDの回折電子場で励起した2次電子のスピン計測
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Bibliographic Information
- Title
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2次電子スピン計測技術の開発 : RHEEDの回折電子場で励起した2次電子のスピン計測
- Author
-
居島, 薫
- Author(Another name)
-
イジマ, カオル
- University
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北海道大学
- Types of degree
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博士 (工学)
- Grant ID
-
甲第5140号
- Degree year
-
2000-03-24
Note and Description
博士論文
Table of Contents
- 目次 / (0003.jp2)
- 第1章 序論 / p1 (0006.jp2)
- 1.1 はじめに / p1 (0006.jp2)
- 1.2 本論文の構成 / p2 (0007.jp2)
- 1.3 本研究の要素技術開発の概略 / p3 (0008.jp2)
- 第2章 電子スピン計測 / p7 (0012.jp2)
- 2.1 電子スピン計測の歴史的背景 / p7 (0012.jp2)
- 2.2 本研究における電子スピン計測法の特徴 / p9 (0014.jp2)
- 2.3 Mott散乱型電子スピン検出器の原理 / p10 (0015.jp2)
- 第3章 開発したMott散乱型電子スピン検出器 / p16 (0021.jp2)
- 3.1 はじめに / p16 (0021.jp2)
- 3.2 開発したMott検出器の構成と仕様 / p16 (0021.jp2)
- 3.3 電子軌道シミュレーションによる電子光学系の最適化 / p29 (0034.jp2)
- 3.4 Mott検出器の校正実験 / p29 (0034.jp2)
- 3.5 3章まとめ / p38 (0043.jp2)
- 第4章 反射高速電子回折電子場励起法による2次電子のスピン計測実験 / p40 (0045.jp2)
- 4.1 はじめに / p40 (0045.jp2)
- 4.2 計測法の原理 / p40 (0045.jp2)
- 4.3 実験装置 / p40 (0045.jp2)
- 4.4 多結晶ニッケル表面近傍の磁化曲線測定 / p48 (0053.jp2)
- 4.5 ケイ素鉄単結晶のスピン―温度依存性の測定 / p52 (0057.jp2)
- 4.6 4章まとめ / p57 (0062.jp2)
- 第5章 反射高速電子回折電子場励起スピンSEMへの応用 / p58 (0063.jp2)
- 5.1 はじめに / p58 (0063.jp2)
- 5.2 計測法の原理 / p58 (0063.jp2)
- 5.3 実験装置 / p59 (0064.jp2)
- 5.4 ケイ素鉄単結晶研磨表面のスピン計測実験 / p64 (0069.jp2)
- 5.5 マグネタイト単結晶(110)研磨表面のスピン計測実験 / p70 (0075.jp2)
- 5.6 5章まとめ / p76 (0081.jp2)
- 第6章 表面第1原子層のスピン計測に向けて / p77 (0082.jp2)
- 6.1 はじめに / p77 (0082.jp2)
- 6.2 RHEED表面波共鳴現象について / p78 (0083.jp2)
- 6.3 ニッケル球状単結晶上のファセット形成について / p84 (0089.jp2)
- 6.4 6章まとめ / p100 (0105.jp2)
- 第7章 結論 / p105 (0110.jp2)
- 参考文献 / p106 (0111.jp2)
- 謝辞 / p109 (0114.jp2)
- 付録 / p111 (0116.jp2)