Electron tunneling spectroscopic studies of electron-phonon interactions and density of states in Bi2Te3 and Bi1-xSbx thermoelectric semiconductors 電子トンネル分光法によるBi2Te3およびBi1-xSbx熱電半導体の電子 : フォノン相互作用ならびに電子状態密度の研究

この論文をさがす

著者

    • 長尾, 二郎 ナガオ, ジロウ

書誌事項

タイトル

Electron tunneling spectroscopic studies of electron-phonon interactions and density of states in Bi2Te3 and Bi1-xSbx thermoelectric semiconductors

タイトル別名

電子トンネル分光法によるBi2Te3およびBi1-xSbx熱電半導体の電子 : フォノン相互作用ならびに電子状態密度の研究

著者名

長尾, 二郎

著者別名

ナガオ, ジロウ

学位授与大学

北海道大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

乙第5621号

学位授与年月日

2000-03-24

注記・抄録

博士論文

目次

  1. Abstract / p3 (0004.jp2)
  2. Contents / p4 (0005.jp2)
  3. 1.Introduction / p1 (0006.jp2)
  4. 2.Basic concept / p9 (0010.jp2)
  5. 2-1.Thermoelectric phenomena / p9 (0010.jp2)
  6. 2-2.Electron-phonon interactions in thermoelectric semiconductors / p20 (0016.jp2)
  7. 2-3.Impurity density of states and thermoelectric phenomena / p25 (0018.jp2)
  8. 2-4.Electron tunneling spectroscopy / p27 (0019.jp2)
  9. 3.Experimental techniques / p30 (0021.jp2)
  10. 4.Results and discussion / p33 (0022.jp2)
  11. 4-1.Inelastic electron tunneling experiments on Bi₂Te₃ and Bi₁₋χSbχ crystals / p33 (0022.jp2)
  12. 4-2.Investigation of impurity states in μ-Bi₂Te₃ films / p39 (0025.jp2)
  13. 5.Conclusions / p43 (0027.jp2)
  14. Acknowledgements / p44 (0028.jp2)
  15. Appendix -To control crystalline orientation of thin films for thermoelectric semiconductors / p45 (0028.jp2)
  16. References / p53 (0032.jp2)
0アクセス

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000189726
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000190009
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000354040
  • データ提供元
    • NDL ONLINE
    • NDLデジタルコレクション
ページトップへ