テスト生成手法を用いた論理回路設計に関する研究 テストセイセイ シュホウ ヲ モチイタ ロンリカイロ セッケイ ニ カンスル ケンキュウ

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著者

    • 市原, 英行 イチハラ, ヒデユキ

書誌事項

タイトル

テスト生成手法を用いた論理回路設計に関する研究

タイトル別名

テストセイセイ シュホウ ヲ モチイタ ロンリカイロ セッケイ ニ カンスル ケンキュウ

著者名

市原, 英行

著者別名

イチハラ, ヒデユキ

学位授与大学

大阪大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

甲第7105号

学位授与年月日

1999-11-25

注記・抄録

博士論文

14401甲第07105号

博士(工学)

大阪大学

1999-11-25

14989

目次

  1. 目次 / p1 (0003.jp2)
  2. 第1章 序論 / p1 (0004.jp2)
  3. 第2章 論理回路のテストと回路簡単化 / p5 (0006.jp2)
  4. 2.1 まえがき / p5 (0006.jp2)
  5. 2.2 論理回路のテスト / p6 (0007.jp2)
  6. 2.3 テスト生成手法を用いた回路簡単化 / p13 (0010.jp2)
  7. 2.4 あとがき / p18 (0013.jp2)
  8. 第3章 含意操作の拡張 / p19 (0013.jp2)
  9. 3.1 まえがき / p19 (0013.jp2)
  10. 3.2 含意操作の拡張 / p20 (0014.jp2)
  11. 3.3 学習順序と獲得含意数 / p25 (0016.jp2)
  12. 3.4 提案学習順序 / p27 (0017.jp2)
  13. 3.5 実験結果 / p28 (0018.jp2)
  14. 3.6 あとがき / p31 (0019.jp2)
  15. 第4章 含意関係の不変性を考慮した回路簡単化 / p33 (0020.jp2)
  16. 4.1 まえがき / p33 (0020.jp2)
  17. 4.2 部分回路変換と含意関係 / p34 (0021.jp2)
  18. 4.3 部分回路変換における含意関係の不変性 / p35 (0021.jp2)
  19. 4.4 回路簡単化アルゴリズム / p39 (0023.jp2)
  20. 4.5 実験結果 / p41 (0024.jp2)
  21. 4.6 あとがき / p42 (0025.jp2)
  22. 第5章 含意操作による冗長指摘を用いた冗長付加と除去による回路簡単化 / p43 (0025.jp2)
  23. 5.1 まえがき / p43 (0025.jp2)
  24. 5.2 含意関係に基づく冗長付加 / p44 (0026.jp2)
  25. 5.3 含意操作を用いた冗長指摘 / p45 (0026.jp2)
  26. 5.4 冗長部分回路の同時除去性 / p53 (0030.jp2)
  27. 5.5 実験結果 / p54 (0031.jp2)
  28. 5.6 あとがき / p56 (0032.jp2)
  29. 第6章 テストベクトル数が制限された条件下でのテスト生成 / p57 (0032.jp2)
  30. 6.1 まえがき / p57 (0032.jp2)
  31. 6.2 測定ベクトル数の制限下でのテスト生成問題 / p58 (0033.jp2)
  32. 6.3 故障検出率の計算方法 / p59 (0033.jp2)
  33. 6.4 測定ベクトル選択手法 / p61 (0034.jp2)
  34. 6.5 実験結果 / p64 (0036.jp2)
  35. 6.6 あとがき / p66 (0037.jp2)
  36. 第7章 結論 / p67 (0037.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000189912
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000190195
  • DOI(NDL)
  • 本文言語コード
    • jpn
  • NDL書誌ID
    • 000000354226
  • データ提供元
    • 機関リポジトリ
    • NDL ONLINE
    • NDLデジタルコレクション
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