特許データを利用した技術経済分析の研究 : 特許計量学構築へのアプローチ A methodological study of patent statistics for technoeconomic analysis : An approach to the patentometrics
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著者
書誌事項
- タイトル
-
特許データを利用した技術経済分析の研究 : 特許計量学構築へのアプローチ
- タイトル別名
-
A methodological study of patent statistics for technoeconomic analysis : An approach to the patentometrics
- 著者名
-
辻, 洋一郎
- 著者別名
-
ツジ, ヨウイチロウ
- 学位授与大学
-
東京工業大学
- 取得学位
-
博士 (学術)
- 学位授与番号
-
甲第4847号
- 学位授与年月日
-
2001-03-26
注記・抄録
博士論文
目次
- 論文目録 / (0002.jp2)
- 要旨 / (0004.jp2)
- 目次 / (0005.jp2)
- 要約 / (0004.jp2)
- 図表一覧 / (0007.jp2)
- 第1章 序論 / p1 (0008.jp2)
- 1.1 本論文の背景 / p1 (0008.jp2)
- 1.2 本論文の目的 / p5 (0012.jp2)
- 1.3 本論文の構成 / p5 (0012.jp2)
- 注 / p7 (0014.jp2)
- 第2章 特許データ分析に関する既存文献の整理 / p9 (0016.jp2)
- 2.1 本章の目的と構成 / p9 (0016.jp2)
- 2.2 ｢特許｣に関する研究の概要 / p9 (0016.jp2)
- 2.3 特許データを用いる技術開発分析に関する既存研究 / p10 (0017.jp2)
- 注 / p26 (0033.jp2)
- 第3章 特許データ分析手法の検討 / p29 (0036.jp2)
- 3.1 本章の目的と構成 / p29 (0036.jp2)
- 3.2 技術開発活動を代表的に示す特許指標の検討 / p30 (0037.jp2)
- 3.3 データベースの選択と検索方法の検討 / p47 (0054.jp2)
- 3.4 技術開発プロセス分析におけるデータ選別方法の検討 / p52 (0059.jp2)
- 3.5 まとめと考察 / p62 (0069.jp2)
- 注 / p68 (0075.jp2)
- 第4章 特許データに基づく技術開発プロセスの分析 / p72 (0079.jp2)
- 4.1 本章の目的と構成 / p72 (0079.jp2)
- 4.2 特許データによる産業レベルの技術開発動向 / p73 (0080.jp2)
- 4.3 企業レベルでの技術開発プロセスの分析 / p84 (0091.jp2)
- 4.4 キヤノンの技術開発の組織的特徴 / p96 (0103.jp2)
- 4.5 まとめと経営学観点からの考察 / p99 (0106.jp2)
- 4.6 本章のまとめ / p107 (0114.jp2)
- 注 / p108 (0115.jp2)
- 補遺 / p110 (0117.jp2)
- 第5章 特許データ分析における限界と信頼性向上 / p117 (0124.jp2)
- 5.1 本章の目的と構成 / p117 (0124.jp2)
- 5.2 特許データ解析の限界と有用性 / p118 (0125.jp2)
- 5.3 まとめ / p126 (0133.jp2)
- 第6章 まとめ―｢特許計量学｣構築を目指して / p127 (0134.jp2)
- 6.1 本論文のまとめ / p127 (0134.jp2)
- 6.2 ｢特許計量学｣の体系と本論文の位置付け / p129 (0136.jp2)
- 6.3 ｢特許計量学｣構築へ向けた今後の発展的課題 / p131 (0138.jp2)
- 参考文献 / (0140.jp2)
- 謝辞 / (0148.jp2)
- 添付資料 / (0149.jp2)