特許データを利用した技術経済分析の研究 : 特許計量学構築へのアプローチ A methodological study of patent statistics for technoeconomic analysis : An approach to the patentometrics
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著者
書誌事項
- タイトル
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特許データを利用した技術経済分析の研究 : 特許計量学構築へのアプローチ
- タイトル別名
-
A methodological study of patent statistics for technoeconomic analysis : An approach to the patentometrics
- 著者名
-
辻, 洋一郎
- 著者別名
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ツジ, ヨウイチロウ
- 学位授与大学
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東京工業大学
- 取得学位
-
博士 (学術)
- 学位授与番号
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甲第4847号
- 学位授与年月日
-
2001-03-26
注記・抄録
博士論文
資料形態 : テキストデータ プレーンテキスト
コレクション : 国立国会図書館デジタルコレクション > デジタル化資料 > 博士論文
目次
- 論文目録
- 要旨
- 目次
- 要約
- 図表一覧
- 第1章 序論
- 1.1 本論文の背景
- 1.2 本論文の目的
- 1.3 本論文の構成
- 注
- 第2章 特許データ分析に関する既存文献の整理
- 2.1 本章の目的と構成
- 2.2 ｢特許｣に関する研究の概要
- 2.3 特許データを用いる技術開発分析に関する既存研究
- 注
- 第3章 特許データ分析手法の検討
- 3.1 本章の目的と構成
- 3.2 技術開発活動を代表的に示す特許指標の検討
- 3.3 データベースの選択と検索方法の検討
- 3.4 技術開発プロセス分析におけるデータ選別方法の検討
- 3.5 まとめと考察
- 注
- 第4章 特許データに基づく技術開発プロセスの分析
- 4.1 本章の目的と構成
- 4.2 特許データによる産業レベルの技術開発動向
- 4.3 企業レベルでの技術開発プロセスの分析
- 4.4 キヤノンの技術開発の組織的特徴
- 4.5 まとめと経営学観点からの考察
- 4.6 本章のまとめ
- 注
- 補遺
- 第5章 特許データ分析における限界と信頼性向上
- 5.1 本章の目的と構成
- 5.2 特許データ解析の限界と有用性
- 5.3 まとめ
- 第6章 まとめ―｢特許計量学｣構築を目指して
- 6.1 本論文のまとめ
- 6.2 ｢特許計量学｣の体系と本論文の位置付け
- 6.3 ｢特許計量学｣構築へ向けた今後の発展的課題
- 参考文献
- 謝辞
- 添付資料
