陽電子寿命法を用いた卓上型および可搬型のナノ構造欠陥その場分析装置の開発

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Author

    • Chalermkarnnon, Prasert チャレームカンノン, プラサート

Bibliographic Information

Title

陽電子寿命法を用いた卓上型および可搬型のナノ構造欠陥その場分析装置の開発

Author

Chalermkarnnon, Prasert

Author(Another name)

チャレームカンノン, プラサート

University

大阪大学

Types of degree

博士 (工学)

Grant ID

甲第9200号

Degree year

2003-03-25

Note and Description

博士論文

1access

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Codes

  • NII Article ID (NAID)
    500000231787
  • NII Author ID (NRID)
    • 8000000232307
  • Text Lang
    • jpn
  • NDLBibID
    • 000004137423
  • Source
    • Institutional Repository
    • NDL ONLINE

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