Study on high accurate laser diode interferometer for on-machine surface profile measurement オンマシン表面形状計測を可能とする高精度半導体レーザ干渉計に関する研究

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Author

    • 趙, 学峰 チョウ, ガクホウ

Bibliographic Information

Title

Study on high accurate laser diode interferometer for on-machine surface profile measurement

Other Title

オンマシン表面形状計測を可能とする高精度半導体レーザ干渉計に関する研究

Author

趙, 学峰

Author(Another name)

チョウ, ガクホウ

University

新潟大学

Types of degree

博士 (工学)

Grant ID

甲第2489号

Degree year

2005-03-23

Note and Description

博士論文

新潟大学

平成17年3月23日

新大院博(工)第202号

新大院博(工)甲第202号

4access

Codes

  • NII Article ID (NAID)
    500000335353
  • NII Author ID (NRID)
    • 8000000336269
  • Text Lang
    • eng
  • NDLBibID
    • 000008058155
  • Source
    • Institutional Repository
    • NDL ONLINE
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