Study of perpendicular exchange bias mechanism in multi-layer thin films 垂直磁化・多膜層における交換バイアス・メカニズムの研究

この論文をさがす

著者

    • Phuoc, Nguyen Nguyen フォック, ニュイン ニュイン

書誌事項

タイトル

Study of perpendicular exchange bias mechanism in multi-layer thin films

タイトル別名

垂直磁化・多膜層における交換バイアス・メカニズムの研究

著者名

Phuoc, Nguyen Nguyen

著者別名

フォック, ニュイン ニュイン

学位授与大学

豊田工業大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

甲第29号

学位授与年月日

2006-09-26

注記・抄録

博士論文

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000356643
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000357769
  • 本文言語コード
    • eng
  • NDL書誌ID
    • 000008475631
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
ページトップへ