A quantitative element analysis method of wet sediment samples using an XRF microscanner and its application to the high resolution analysis of the late Quaternary paleoceanography of the Japan Sea XRF microscannerによる含水試料元素定量法の開発と、第四紀日本海古海洋変動高解像度解析への応用

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著者

    • 木戸, 芳樹 キド, ヨシキ

書誌事項

タイトル

A quantitative element analysis method of wet sediment samples using an XRF microscanner and its application to the high resolution analysis of the late Quaternary paleoceanography of the Japan Sea

タイトル別名

XRF microscannerによる含水試料元素定量法の開発と、第四紀日本海古海洋変動高解像度解析への応用

著者名

木戸, 芳樹

著者別名

キド, ヨシキ

学位授与大学

東京大学

取得学位

博士 (理学)

学位授与番号

甲第21015号

学位授与年月日

2006-03-23

注記・抄録

博士論文

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000357610
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000358742
  • 本文言語コード
    • eng
  • NDL書誌ID
    • 000008477651
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
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