Low temperature scanning tunneling microscopy on semiconductor surface structures and their electronic states 低温走査トンネル顕微鏡による半導体表面構造とその電子状態に関する研究

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著者

    • 小野, 雅紀 オノ, マサノリ

書誌事項

タイトル

Low temperature scanning tunneling microscopy on semiconductor surface structures and their electronic states

タイトル別名

低温走査トンネル顕微鏡による半導体表面構造とその電子状態に関する研究

著者名

小野, 雅紀

著者別名

オノ, マサノリ

学位授与大学

東京大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

甲第21175号

学位授与年月日

2006-03-23

注記・抄録

博士論文

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000357887
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000359019
  • 本文言語コード
    • eng
  • NDL書誌ID
    • 000008479347
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
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