Electron transport and surface quantization in silicon surface inversion layers シリコン表面反転層中における電子伝導と表面量子化

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著者

    • 榊, 裕之 サカキ, ヒロユキ

書誌事項

タイトル

Electron transport and surface quantization in silicon surface inversion layers

タイトル別名

シリコン表面反転層中における電子伝導と表面量子化

著者名

榊, 裕之

著者別名

サカキ, ヒロユキ

学位授与大学

東京大学

取得学位

工学博士

学位授与番号

甲第3090号

学位授与年月日

1973-03-29

注記・抄録

博士論文

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500002282952
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000002847933
  • NDL書誌ID
    • 000008585838
  • データ提供元
    • NDL ONLINE
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