Methodology of quantitative nanorheological analysis on polymer surfaces by atomic force microscopy 原子間力顕微鏡を用いた高分子表面の定量的ナノレオロジー解析手法

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著者
    • 藤波, 想 フジナミ, ソウ
書誌事項
タイトル

Methodology of quantitative nanorheological analysis on polymer surfaces by atomic force microscopy

タイトル別名

原子間力顕微鏡を用いた高分子表面の定量的ナノレオロジー解析手法

著者名

藤波, 想

著者別名

フジナミ, ソウ

学位授与大学

東京工業大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

甲第6782号

学位授与年月日

2007-03-26

注記・抄録

博士論文

各種コード
  • NII論文ID(NAID)
    500000404193
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000405433
  • 本文言語コード
    • eng
  • NDL書誌ID
    • 000009110487
  • データ提供元
    • NDL ONLINE
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