ドーナツ型チャンネルにおける界面電流特性の測定に基づく電気浸透流・電気二重層の構造解明

この論文をさがす

著者

    • 張, 丹 チョウ, タン

書誌事項

タイトル

ドーナツ型チャンネルにおける界面電流特性の測定に基づく電気浸透流・電気二重層の構造解明

著者名

張, 丹

著者別名

チョウ, タン

学位授与大学

名古屋工業大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

甲第799号

学位授与年月日

2011-03-31

注記・抄録

博士論文

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000545091
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000547164
  • 本文言語コード
    • jpn
  • NDL書誌ID
    • 000011284264
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
ページトップへ