不均質な半導体薄膜のvan der Pauw測定に関する研究

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著者

    • 松村, 透 マツムラ, トオル

書誌事項

タイトル

不均質な半導体薄膜のvan der Pauw測定に関する研究

著者名

松村, 透

著者別名

マツムラ, トオル

学位授与大学

秋田大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

甲第572号

学位授与年月日

2011-03-23

注記・抄録

博士論文

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000547434
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000549526
  • 本文言語コード
    • jpn
  • NDL書誌ID
    • 023262823
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
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