Effects of domain structure on ferroelectric and piezoelectric properties of lead-based ferroelectric films characterized by advanced X-ray diffraction techniques 先進的なX線回折技術を用いた鉛系強誘電体膜における強誘電性及び圧電性に寄与するドメイン構造の効果

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著者

    • 森岡, 仁 モリオカ, ヒトシ

書誌事項

タイトル

Effects of domain structure on ferroelectric and piezoelectric properties of lead-based ferroelectric films characterized by advanced X-ray diffraction techniques

タイトル別名

先進的なX線回折技術を用いた鉛系強誘電体膜における強誘電性及び圧電性に寄与するドメイン構造の効果

著者名

森岡, 仁

著者別名

モリオカ, ヒトシ

学位授与大学

東京工業大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

甲第8009号

学位授与年月日

2010-03-26

注記・抄録

博士論文

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000547701
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000549794
  • 本文言語コード
    • eng
  • NDL書誌ID
    • 023314177
  • データ提供元
    • NDL ONLINE
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