Study on scanning Lorentz force microscopy and displacement current measurements in organic thin-film transistors 走査型ローレンツ力顕微鏡と有機薄膜トランジスタの変位電流計測手法に関する研究

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著者

    • 鈴木, 聖一 スズキ, セイイチ

書誌事項

タイトル

Study on scanning Lorentz force microscopy and displacement current measurements in organic thin-film transistors

タイトル別名

走査型ローレンツ力顕微鏡と有機薄膜トランジスタの変位電流計測手法に関する研究

著者名

鈴木, 聖一

著者別名

スズキ, セイイチ

学位授与大学

東京工業大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

甲第7968号

学位授与年月日

2010-03-26

注記・抄録

博士論文

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000547763
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000549856
  • 本文言語コード
    • eng
  • NDL書誌ID
    • 023314524
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
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